β 射线背散射测量法

符合标准 DIN EN ISO 3543 与 ASTM B567a 的 β 射线背散射测量法。

Schematic diagram of the Beta-backscatter measuring method.
Schematic diagram of the Beta-backscatter measuring method.

功能原理

同位素源可发出 β 射线(电子)。它们可穿透带涂层工件的表面,并与涂层和基材的原子相互作用。测量效果包括通过盖革-米勒计数管检测到的背散射电子的数量。当涂层与基材的原子数 Z 相差至少为 Z = 5 时,可通过该方法确定涂层厚度。

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