统计功能

多数测量都会受到随机因素的影响。单一值无法描述测量实体真正的定量属性。因此,需要进行重复测量并获得多个单独测量值。同时还需要用到统计方法,来对重复测量结果进行评估。

因此,可得出大量测量值的平均值和相应的方差。由此可计算出各值在平均值附近的分布情况。通常,该分布会形成高斯钟形曲线 – 一种可应用于众多技术工艺的曲线;该曲线会显示基于测量值得到的可能的分布情况。

但是,在多数涂层工艺中,都会出现不对称的分布情况。这种“对数正态分布”是测量变量都为正值时的典型情况,自然界中的增长过程或涂层厚度情况均是如此。

通过统计分布,能够预测出整个过程中的涂层厚度 – 即无需 100% 监视即可评估该过程。

FISCHER 仪器会为我们的客户执行这些统计计算。只需按下按钮,我们的仪器就会通过记录的测量值得出各种统计报告。

想要了解更多信息,请访问:
https://en.wikipedia.org/wiki/Normal_distribution
https://en.wikipedia.org/wiki/Log-normal_distribution

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