CMS2

COULOSCOPE CMS2 系列仪器通过电解退镀方式测量镀层厚度。还可使用库仑法精确测定任何类型底材上的多镀层厚度。CSM2 STEP 版本可对单种镀层进行标准的STEP测试,以检测电位差(如多层镍涂层的质量控制)。

CMS2

特性:

  • 使用准确性高的电解退镀技术(库仑法),精确地测量多镀层的厚度
  • 图形显示的交互方式,易于操作
  • 适用性广泛:可测量金属和非金属底材上的镀层厚度,也适合测量多镀层厚度
  • 提供全面的附件产品供您选择,可满足特定需求

 

应用:

  • 金属和非金属底材上任何类型的金属镀层
  • 单层或多层的镀层厚度测量
  • 特别适用于通过 STEP 测试进行多层镍测量
  • 适用于 0.05 µm 至 40 µm 的镀层厚度测量

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南通菲希尔测试仪器有限公司
上海/中国

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