台式分析系统

通过X射线荧光进行材料分析的台式测量仪器可提供卓越的精度与广泛的适用性。同时,FISCHER产品还可为诸多分析需求提供合适的测量解决方案。从无损测量到超高的测量效率,众多优势使您对FISCHER仪器的投资能够获得丰厚的回报。

GOLDSCOPE

GOLDSCOPE系列X射线荧光仪器是专为分析黄金和其他贵金属而设计的

XAN500

一台仪器,三种作业模式:XAN®500不只是一台手持便携式XRF设备,它还可以转变为台式仪器或者整合到生产线中。

XAN

用于快速、高效地测量镀层厚度及材料成分分析的测量仪器。

XDL / XDLM / XDAL

功能强大:XDL 系列仪器具有全面的配置方案,可手动或自动测试,是镀层厚度测量与材料成分分析的理想之选。

XDV-SDD

FISCHERSCOPE® XDV-SDD专为满足最高要求的镀层厚度测量和材料分析而设计

XDV-µ

FISCHER的XDV-µ型系列仪器,可用于测量电子或珠宝等行业中最微小结构的产品

XUV

X 射线荧光仪器,配有用于分析轻元素的真空测量室。

iMOXS

扩展原子力显微镜的功能:模块化 X 射线源 iMOXS 能够让同一设备执行扫描电子显微镜 (SEM)和X射线荧光分析的功能。

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南通菲希尔测试仪器有限公司
上海/中国

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