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特点

  • 通用手持式X射线荧光分析仪,即使材料组合困难复杂的情况下,也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析;符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准
  • 重量1.9 kg
  • 一次电池充电可持续运行6个小时
  • 测量点:3毫米Ø
  • 高分辨率硅漂移检测器
  • 用于户外的IP54等级
  • 用作台式设备的可选测量箱;
  • 使用完整版WinFTM®软件进行数据统计

应用

  • 测试大型样件,装配测量箱后也可以测试小样件
  • 一次测试同时测定镀层的厚度和成分(例如,Fe上的ZnNi合金)
  • 未知合金的无标准片测量
  • 大型镀层零件(例如机器部件和外壳)的测量
  • 电镀层的测试
  • 电镀液金属含量的分析

不只是现场工作专家

FISCHERSCOPE®X射线XAN®500是目前最通用的X射线荧光系统。作为一款手持式XRF分析仪,它非常适合在生产线上检查大型零件(如飞机零件,管道或涡轮叶片)上的镀层;

与市场上其他便携式X射线荧光设备相比,FISCHERSCOPE XAN500可以非常精确地确定镀层厚度。它的三点支撑设计使其易于正确放置,并在整个测量过程中保持稳定。高质量的硅漂移检测器(SDD)确保了分析合金层(如锌镍合金)所需的精度。

但是,XAN 500不仅仅是一个用于大型零件的测量系统。借助可选的测量箱,只需几个简单的步骤即可将其转换为台式仪器。 这样您就可以快速、轻松地检查小零件,如螺母和螺栓。

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