FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
特点
- 高端泛用的XRF分析仪，用于超薄镀层 (<0.05μm) 的自动测量和低于每密耳范围的精细材料分析，符合ISO 3497 和 ASTM B 568 标准
- 带钨靶的微聚焦射线管
- 4个可切换的准直器，用于优化测量条件
- 6种可切换的滤波器，为更复杂的测量任务提供最佳的激发条件
- 极其强大的硅漂移探测器 (SDD) ，具有50 mm²的超大有效面积
- 数字脉冲处理器 DPP+ ，用于提高计数率，减少测量时间或提高测量结果的重复性
- 分析从 Al(13) 到 U(92) 的元素
- 样品高度可达 14cm
- 高精度、可编程的 XY 平台，定位精度 < 5 µm，用于小结构的自动测量
- 采用DCM方法，可简单、快速地调整测量距离
- 完全受保护的仪器，根据现行的辐射保护法规获得型号认证
高素质的全能型选手
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD是Fischer产品组合中最强大的X射线荧光仪器之一。这台XRF光谱仪配备了高分辨率和强大的硅漂移探测器 (SDD) ，其有效面积为 50 mm² 。这使您可以精确地、无损地测量最薄的涂层--例如，引线框架上约 2nm 厚的金镀层。
结合内部开发的新数字脉冲处理器DPP+，您可以将您的测量性能提高到一个新的水平。现在可以处理更高的计数率，从而缩短测量时间或提高测量结果的重复性。同时，XDV-SDD完全适用于非破坏性的材料分析。例如，它对塑料中的微量铅的检测灵敏度约为2ppm - 比RoHS或CPSIA中要求的数值低几个数量级。
为了给每个XRF涂层厚度测量创造理想的条件，XDV-SDD有可切换的准直器和初级滤波器，可以工作在科学的状态下。这款极其坚固的设备，有直观的控制面板，通过操纵杆和按钮，很容易操作，专为工业用途的连续测试而设计。
案例展示
