探头

Fischer探头

我们测量设备的核心。

用于涂层厚度测量和材料测试的自产探头,具有经过验证的 Fischer 质量,可完成最苛刻的测量任务。从市场上最大的探头组合中获益。

市场上最广泛的探头组合。

我们电磁测量系统的核心是探头。它产生测量信号,然后进行评估。选择合适的探头对测量结果的质量至关重要。我们为涂镀层厚度测量材料测试的各种应用提供全面的高精度测量探头。我们将从 100 多个标准探头、众多特殊探头和数字探头中为您的测量任务找到最佳探头。如有需要,我们还可以开发个性化定制设计。

探头种类繁多。

市场上最广泛的产品组合,为每项测量任务提供最佳探头

量身定制。

具有不同外壳形状和特性的探头

可靠的测量结果。

探头具有出色的测量精度和线性度

坚固耐用。

最佳质量,最长使用寿命

单独出厂校准。

确保最高精度

质量与安全。

内部开发和生产,满足最高要求

智能连接。

通过 USB-C 或蓝牙与 DMP® 设备进行便捷的数据传输

灵活的 F 适配器。

通过 DMP® 设备继续使用模拟探头的全部功能

  • 特点

      市场上最广泛的探头组合,拥有 100 多个标准探头

      探头集成曲率补偿功能,可对曲面进行可靠测量(振幅敏感涡流测量法)

      坚固耐用、防磨损的探头杆可确保长期获得精确的测量结果

      根据应用不同,外壳形状和性能也不同

      探头具有电导率补偿功能,可避免不同电导率的影响(振幅敏感涡流测量法)

      多种专用探头可满足最苛刻的测量任务要求

      内部开发和生产,符合最高质量标准

      每个探头都在工厂进行单独校准,并采用内部校准标准 ,确保最大程度的准确性和可重复性

      由于采用了弹簧测头系统,即使是手动测量,接触压力也几乎保持不变

探头的特性和选择标准

根据不同的应用领域,我们的探头具有不同的特性,并符合特定的标准,以达到最佳效果和最高精度。例如,在为您的应用选择最佳探头时,我们会考虑以下测量条件:

探头类型和应用

工业环境中的测量任务多种多样,我们的探头系列也是如此。经过不断的开发、改进和创新,我们的探头系列现已包括数百种探头。我们将与应用专家一起,为您的应用寻找合适的探头。

  • 各种探针电极设计

      适用于不同的表面特性:

      • 单杆或双杆
      • 圆杆或扁杆
      • 不同的杆尺寸
      • 不同的杆材料,如硬质金属、红宝石、TiN/TiC、PVD 涂层、硬塑料
  • 不同测量方法的探头

      • 磁感应探头:可磁化基体材料上的不可磁化涂层
      • 振幅敏感涡流探头:在导电、非磁性基材上测量非磁化和非导电涂镀层
      • 双探头:测量钢和有色金属
      • 相敏涡流探头:在多种不同基体材料上使用导电和可磁化涂镀层
      • 磁性探头:不可磁化基材上的可磁化涂镀层和具有良好磁化性基材上的不可磁化涂镀层(特别是厚金属层)
      • 电导率探头:测量有色金属(如铝合金)的比电导率;通过电导率读数对材料特性(如微观结构、纯度、硬度)进行混淆测试或间接分析
      • Duplex 探头:钢板电镀锌镀层、钢板热浸锌镀层
      • 铁素体探头:奥氏体钢和双相钢的铁素体含量测量和马氏体含量测量
  • 用于特殊应用的探头

      特别具有挑战性的测量任务时有发生,只有特殊的探头解决方案才能提供精确的测量结果。为此,Fischer专家们根据需要开发了个性化的特殊设计,以提供最高的重复性和精确度。

  • 数字探头

      我们的数字探头通过 USB-C 接口和蓝牙与DMP® 系列设备结合使用,具有智能和面向未来的连接能力,其质量经过了 Fischer 的验证。数字探头适用于整个 DMP® 系列。使用我们的 F 适配器,您可以在 DMP® 设备上继续使用模拟探头的全部性能。我们的探头耐磨损、可维修且极其坚固耐用,防护等级为 IP65*,让您体验到最高的质量和最长的使用寿命。

      *取决于探头类型

应用说明
产品视频
教程
网络研讨会
宣传册
SR-SCOPE® DMP®30: Measure copper thicknesses on printed circuit boards reliably
FERITSCOPE® DMP®30: Ferrite content measurement in austenitic and duplex steels
Introducing the DMP®10-40 series
DUALSCOPE® FMP series and FA70 probe: Measuring intumescent coating thickness
Influence of curved surfaces on the measurement results and its compensation

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