COULOSCOPE® CMS2 和 CMS2 STEP
预定义测量任务
适用于不同层系统
适用于不同层系统
测量
整层结构
整层结构
简单
校准
为
最大 精确度
最大 精确度
用于质量控制的库仑法涂镀层厚度测量。
超过一定的涂镀层厚度，使用 X 射线荧光非破坏性测量涂镀层厚度就会达到极限。这就是 COULOSCOPE® CMS2 发挥作用的地方。通过电解层剥离法，使用库仑法精确、可靠地测量几乎所有金属涂镀层的厚度。这种易于使用的台式设备具有最大的灵活性，因为它可用于多种涂镀层-基底组合。
最佳测量概念。
针对不同涂镀层系统的预定义测量任务
易于校准。
达到最高精度
可单独扩展。
配件齐全，便于实际操作和安全存放
操作直观。
彩色显示屏和图形化用户指南
最大灵活性。
精确测量几乎所有涂镀层-基底组合的涂镀层厚度
COULOSCOPE® CMS2：当使用 XRF 进行无损涂镀层厚度测量达到一定涂镀层厚度以上时。
功能测量站由 COULOSCOPE® CMS2 或 CMS2 STEP 和带测量池（或 STEP 测量池）的支架组成。
COULOSCOPE® CMS2 可以精确测量实际应用中遇到的许多单层和多层涂镀层。
除了库仑涂镀层厚度测量外，还可使用 COULOSCOPE® CMS2 STEP 测量电化学电位。
特点
测量单元电压曲线图
针对不同涂镀层系统（如铁镀锌或黄铜镀镍）的近 100 项预定义测量任务
根据 DIN EN ISO 2177 标准卸载涂镀层
通过 USB 接口进行简单的数据传输
测量范围：取决于涂镀层-基材组合和去除速度 0.02 - 50 µm
测量值记忆：50 种应用中的 3,000 个
STEP 测试测量功能符合 ASTM B764 - 04 和 DIN EN 16866 标准
分离速度（0.1 - 50 微米/分钟）和分离面积（0.6 - 3.2 毫米直径）的选择非常简单
测量方法：阳极剥离库仑法
应用实例
- 测量几乎所有基底材料上的单层和多层金属镀层厚度
- 电镀涂镀层的质量控制
- 监测印刷电路板上的残余锡层厚度
- STEP 测试测量：测量铜、铁、铝或塑料基材（ABS）上的单层厚度和多层镍层的电位差
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应用说明
宣传册
