WIN-HCU®
可编程
测试周期
测试周期
评估依据
几种测量方法
几种测量方法
图示
的
测量值 3D
测量值 3D
可溯源的测量结果。
简单而有指导性的校准工作流程和 Fischer 校准标准
无标准的精确测量。
基于不断开发的算法进行纳米压痕测量
自动化。
编程并自动执行重复测量序列
便捷的评估。
广泛的统计评估,包括统计过程控制 (SPC)
直接导出数据。
可将数据轻松导出到各种接口,如质量管理系统等。
轻松创建数据报告。
完全可定制的报告,只需点击一下即可创建单独的测量协议
功能
这些功能和许多其他功能使 Win-HCU® 成为纳米压痕领域最全面的软件: