自动化解决方案

自动测量解决方案，用于测量有机和电介质单层和多层膜的涂层厚度，以及利用太赫兹波进行材料分析。

功能强大的 XRF 仪器，用于测量和分析运行过程中的薄膜和薄膜系统，并与生产控制系统连接。

坚固耐用的在线 XRF 仪器，用于在生产过程中测量固体带材、打孔网格或涂层膜。

用于自动测量和分析直径达 12 英寸晶圆上的最小结构、极薄涂层和多层系统的专用设备。

坚固耐用、高效的在线 XRF 仪器，可对多达 4 个电镀槽的金属离子浓度进行全自动分析。

适用于多种应用的在线通用测量系统。用于自动涂层厚度测量和材料测试的通用测量系统。

通过 500 多种可溯源校准标准，您可以在每项测量任务中获得绝对可靠的测量结果。

与我们庞大的产品组合相匹配，您会发现测量设备的各种附件。

用于涂层厚度测量、材料分析或材料测试的定制专用解决方案；自动、半自动或独立式。