FISCHERSCOPE® X-RAY 5000

产品可能因型号或功能而有所不同

 

用于薄膜的高精度在线测量。

功能强大的 XRF 仪器,用于测量和分析运行过程中的薄膜和层系统,并与生产控制系统连接。

性能得益于 DPP+
提升高达 50%
坚固耐用,维护成本低
通过固定部件
测量 真空 ²
或在 空气中
¹ ² 显示更多
显示更少

¹ 与 DPP 和 DPP+ 相比,标准偏差显著提高,因此测量能力增强,测量时间明显缩短。

² 仅适用于 FISCHERSCOPE® X-RAY 5400。

 

持续、智能的质量控制。

FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 系列专为最大限度地延长正常运行时间而设计,具有高度的定制性和出色的测量性能(非接触、无损和精确)。该系列设备为模块化单元,因此可以很容易地作为纯组件安装到现有设备中。

量身定制。

易于集成,可根据您的应用进行个性化调整

毫不费力。

采用水冷却,样品温度最高可达 250 °C (482 °F)

DPP+ 数字脉冲处理器。

缩短测量时间或改善标准偏差*。

*与 DPP 相比

坚固可靠。

无活动部件

设计紧凑。

测量头与所有必要组件集于一身

真空兼容。

可安装在真空室上

  • 特点

      钨靶微聚焦射线管;可选钼靶

      固定准直器(可配置至直径 11 毫米)

      用于在真空或空气中测量

      可选配水冷装置,样品温度最高可达 250 °C

      硅漂移探测器 50 mm²,精度最高

      固定滤波器(可配置)

      珀尔帖冷却

      采用 DPP+ 技术,计数率更高,测量时间大大缩短

      可安装在任何位置

      通过 TCP/IP 接口进行远程控制和数据输出

  • 应用实例

      • 测量大面积产品和基底(如燃料电池、玻璃面板和极热表面)上的薄涂层和低负载量
      • 监测 CIGS、CIS、CdTe 和 CdS 等光伏元件的成分和层厚度
      • 测量金属带、金属箔和塑料薄膜上几微米的薄层
      • 溅射和电镀设备的过程监控

      您还有其他应用?请联系我们!

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