XRF
触感
纳米压痕
自动化
为您的 XRF 测量设备选择附件*：
*兼容性取决于相应的测量设备
- 用于电镀槽溶液分析的测量池（图 1）
- 零背景样品台，用于支撑非常薄的部件和薄片（用于抑制测量台信号的光束捕获器）（图 2）
- 定位辅助装置，用于准确定位和校准测试零件（图 3）
- 通用夹钳，用于精确定位几何形状复杂的测试零件（图 4）
- 用于校准标准的夹具（也是磁性的），可将基材和多个校准箔片叠放在一起
- 用于样品制备（如贵金属芯片）的芯片压制工具
- 减震器，以减少振动的影响
- 620 毫米 x 530 毫米的支撑板，用于测量最大 24 英寸的大型印刷电路板。
- 还有更多
为您的接触式测量仪选择附件*：
*兼容性取决于相应的测量设备
- 带电动或手动探头下降装置的测量支架（图 1）
- 用于单手操作仪器的仪器架（图 2）
- 用于现有 Fischer 探头的 DMP F 样品适配器（图 3）
- 螺旋测量装置（图 4）
- 试样夹具，便于将探头固定在表面上
- 通用夹钳，用于精确定位任何几何形状的小试件
- 角度探头导向装置，方便到达孔和凹槽中的测量点
- 触摸笔，方便操作触摸屏
- 连接环和棱镜适配器
- 耗材，如电镀液、插管或校准溶液
- 用于温度补偿的温度传感器
- 更多
为您的硬度测量仪选择附件*：
*兼容性取决于相应的测量设备
- 薄片夹具，用于夹持薄片或金属丝（图 1）
- 用于横向显微照片试样的显微照片试样夹具（图 2）
- 通用试样夹具（图 3）
- 加热台，用于在高达 200 °C 的温度下分析机械性能（图 4）
- 用于减少外部声音影响的隔音罩
- 用于夹持不同几何形状待测物体的通用夹钳
- 原子力显微镜（AFM）
- 更多
为您的自动化解决方案选择附件*：
*兼容性取决于相应的测量设备
- 用于实心带和打孔带的导带器，可精确引导测量产品（FISCHERSCOPE® X-RAY® 4000 系列）（图 1 和图 2）
- 样品测量装置（图 3）
- 用于电镀槽溶液分析的测量池（图 4）
- 长达 30 米的拖曳电缆（FISCHERSCOPE® MMS® 自动化系统）
- 用于自动校准序列的校准夹具
- 用于冲孔网的校准装置（FISCHERSCOPE® X-RAY® 4100）
- 显示器和键盘支架
- 澄清后的其他特殊要求
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- 用于校准标准的夹具（也是磁性的），可将基材和多个校准箔片叠放在一起
- 用于样品制备（如贵金属芯片）的芯片压制工具
- 减震器，以减少振动的影响
- 620 毫米 x 530 毫米的支撑板，用于测量最大 24 英寸的大型印刷电路板。
- 还有更多
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- 带电动或手动探头下降装置的测量支架（图 1）
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- 试样夹具，便于将探头固定在表面上
- 通用夹钳，用于精确定位任何几何形状的小试件
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- 耗材，如电镀液、插管或校准溶液
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纳米压痕
- 薄片夹具，用于夹持薄片或金属丝（图 1）
- 用于横向显微照片试样的显微照片试样夹具（图 2）
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- 用于减少外部声音影响的隔音罩
- 用于夹持不同几何形状待测物体的通用夹钳
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- 用于电镀槽溶液分析的测量池（图 4）
- 长达 30 米的拖曳电缆（FISCHERSCOPE® MMS® 自动化系统）
- 用于自动校准序列的校准夹具
- 用于冲孔网的校准装置（FISCHERSCOPE® X-RAY® 4100）
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