XRF 仪器
安全的测量设备，让您大放异彩。
想要获得最佳的质量控制测量设备？FISCHERSCOPE® X-RAY XRF 测量仪器正是您所需要的。精确、快速、可靠、耐用：无损、无接触、方便地测量涂镀层厚度和分析材料。仪器使用方便，几乎适用于任何应用。
我们的产品种类繁多，包括众多台式仪器、手持设备、（部分）自动化 X 射线测量解决方案以及特殊解决方案。借助我们强大而全面的 WinFTM® 软件，数据传输、数据评估和数据输出比以往任何时候都更加高效。
您的优势
探测器。
您可以从三种不同类型的探测器中选择最佳测量方案：比例计数管、硅 PIN 二极管和硅漂移探测器
经久耐用。
设计坚固，满足特别高的要求
更安全。
测量时间短，测量结果的可重复性更高
定制。
可选择 X 射线管、测量方向、工作台配置等，为您的应用提供最佳测量。
快速测量设计。
只需几个简单的步骤，样品就可放置并准备好进行测量。
全面的服务。
从个人咨询到预防性维护（包括维修和备件管理），再到现场研讨会
Fischer聚焦。
作为全球仅有的两家多毛细管光学元件制造商之一，我们可以将大部分初级辐射聚焦到一个非常小的测量点上。
特别安全。
通过德国型式认证的全面保护仪器。
软件。
市场上功能最强大的涂镀层厚度测量和材料分析应用软件。
控制面板。
久经考验的直观操作理念，便于仪器操作。
全自动型号。
只需轻轻一点，仪器即可为您服务。
最佳成本效益比。
以更少的成本和时间实现最高的质量。
