FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
通过以下方式调节测量距离
获得专利的 DCM 方法
获得专利的 DCM 方法
通过型式认证的
全保护装置
全保护装置
完全
自动
自动
X 射线荧光分析满足更高的要求。
薄,更薄,XDAL®:借助微聚焦射线管和多种半导体探测器,FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 系列是薄涂镀层和极薄涂镀层 < 0.05 μm 领域以及 ppm 范围内材料分析的理想之选。配备 50 mm² 硅漂移探测器的仪器版本还适用于 RoHS 测量。XDAL® 具有多种配置选项(工作台、准直器、滤波器和探测器),使用灵活,测量精确可靠,100% 安全。
调试。
极其快速简单
一台设备,多种可能性。
涂镀层厚度测量、材料分析和痕迹分析
测试多个测量点。
即使是大型样品,也可在整个样品表面设置测量点
也可用于大型样品。
带 C 型槽的防护罩
完全自动化。
只需轻轻一点,仪器即可为您工作
设计紧凑。
在性能和空间要求之间取得了很好的平衡
应用说明
产品视频
教程
网络研讨会
宣传册
技术文章
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards
0.48 MB
AN068 Determination of Pb in solder alloys for high reliability applications
0.67 MB
AN081 Analysing cemented carbide alloys used for making cutting tools
0.50 MB
AN092 How to choose an XRF instrument
1.29 MB
AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging
0.75 MB
AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background
0.41 MB
应用说明
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards 0.48 MB AN068 Determination of Pb in solder alloys for high reliability applications 0.67 MB AN081 Analysing cemented carbide alloys used for making cutting tools 0.50 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MB产品视频
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