FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600

产品可能因型号或功能而有所不同

 

测定薄膜、微量元素和合金

用于测量最小结构、极薄多层涂镀层、功能涂镀层和≤ 0.1 µm 的极薄涂镀层的通用仪器。

性能得益于 DPP+
提升高达 50%
手动 可调节样品台
可快速、轻松地调节样品高度
通过以下方式调节测量距离
获得专利的 DCM 方法
¹ 显示更多
显示更少

¹ DPP+ 与 DPP 相比,标准偏差显著减小,因此测量能力显著增强,测量时间显著缩短。

 

用于极薄镀层的通用 X 射线荧光分析。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 是 Fischer 生产的通用 XRF 分析仪,用于测定超薄镀层、微量元素和合金。采用自上而下的测量方法,只需将样品放在手动操作的剪刀台上即可。激光点可辅助定位。即使是几何形状复杂的样品也能轻松进行精确分析。

用途广泛。

电子和半导体行业的理想之选

RoHS 分析。

可靠的有害物质检测

快速测量设计。

只需几步即可完成样品的放置和测量

平衡。

最佳成本效益比

DPP+ 数字脉冲处理器。

缩短测量时间或改善标准偏差*。

*与 DPP 相比

  • 特点

      硅漂移探测器 50 mm²,超大有效面积 50 mm²

      4 种可切换准直器和 3 种可切换滤波器

      采用 DPP+ 技术,计数率更高,测量时间大大缩短

      钨靶微聚焦射线管

      样品高度可达 140 毫米

      测量点直径约 0.15 毫米

  • 应用实例

      • 分析 ≤ 0.1 µm 的超薄镀层
      • 测量电子和半导体工业中的功能性镀层,如引线框架、插头触点或 PCB 上的镀层
      • 测定复杂的多层系统
      • 测定焊料中的铅含量
      • 测定镍磷涂层中的磷含量

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应用说明
教程
网络研讨会
宣传册
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
Setting up measurement equipment monitoring
Report documentation

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