FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®
通过以下方式调节测量距离
获得专利的 DCM 方法
获得专利的 DCM 方法
通过型式认证的
全保护装置
全保护装置
比例计数管探测器,
超大
测量窗口
测量窗口
XRF 自动化入门。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 系列仪器适用于质量保证、来料检验和生产监控领域的测量。它们与XULM® 系列密切相关,但有一个显著区别:测量方向从上往下!这意味着可以方便地对不平整的样品进行分析,并可实现自动测量。
也可用于大型样品。
带 C 型槽的防护罩
经久耐用。
设计坚固,适用于大规模生产部件的测量
测试多个测量点。
即使是大型样品,也可在整个样品表面上设置测量点
调试。
极其快速简单
量身定制。
不同型号可为您的应用提供最佳解决方案
快速测量设计。
只需几步即可放置样品并准备测量
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards
0.48 MB
AN016 Measurement of Cr/Ni/Cu coatings on plastic substrates
0.21 MB
AN042 Analysis of the metallic content of plating solutions
0.64 MB
AN092 How to choose an XRF instrument
1.29 MB
AN094 XRF analysis with proportional counter tube – These are the advantages
0.36 MB
应用说明
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards 0.48 MB AN016 Measurement of Cr/Ni/Cu coatings on plastic substrates 0.21 MB AN042 Analysis of the metallic content of plating solutions 0.64 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN094 XRF analysis with proportional counter tube – These are the advantages 0.36 MB产品视频
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