FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD

产品可能因型号或功能而有所不同

 

最小测量点,最大测量距离。

使用多毛细管完成高要求的测量任务:配备多毛细管 X 射线光学的高端 XRF 测量设备,用于测量最小的部件,具有最小的测量光斑和最大的测量距离。

性能得益于 DPP+
提升高达 50%
60 微米
最小光斑尺寸
12 毫米
最大测量距离--同类最佳!
¹ 显示更多
显示更少

¹ 与 DPP 和 DPP+ 相比,标准偏差显著提高,因此测量能力增强,或测量时间显著缩短。

 

性能发挥到极致。

适用于形状复杂的小型测试部件。FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD 具有无与伦比的测量距离、最小的测量点和 Ultra 微聚焦射线管,能以最小的测量运动实现更高的性能,是业界领先的 XRF 仪器。

迎接所有挑战。

可靠、快速的测量结果

市场上最先进的多毛细管光学元件。

我们自主生产的多毛细管光学可在较短的测量时间内提供出色的测量结果

准确、精确。

自动图像识别功能可在小型结构上定位测量点

完全自动化。

只需轻轻一按,即可让仪器为您工作

DPP+ 数字脉冲处理器。

缩短测量时间或改善标准偏差*。

*与 DPP 相比

  • 特点

      配备钨靶的 Ultra 微聚焦射线管, 的最小光斑上实现更高的性能;可选配钼靶

      可切换滤波器

      采用 DPP+ 技术,计数率更高,测量时间大大缩短

      多毛细管光学可实现特别小的测量点,测量时间短,强度高

      测量点直径约 60 微米

      使用相应的附件测定电镀槽液中的金属含量

      硅漂移检测器,有效面积为 20 或 50 mm²,可实现最高精度的薄层检测

      样品高度可达 135 毫米

  • 应用实例

      • 测量最小的元件和结构,如组装和复杂形状的印刷电路板、插头触点、接合区域、SMD 元件或细线
      • 测量电子和半导体工业中的功能层
      • 确定复杂的多层系统
      • 自动测量,如质量控制

      您还有其他应用需求吗?请联系我们!

应用说明
产品视频
教程
网络研讨会
宣传册
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performance
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
Setting up measurement equipment monitoring
Smaller, faster and more precise: Polycapillary optics for challenging applications
Report documentation

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