FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB
Fischer DPP+
¹ 代表
即使测量时间很短也能保证最高精度
即使测量时间很短也能保证最高精度
多毛细管光学
内部生产²
最小 光斑尺寸 10 µm (FWHM)
最小 光斑尺寸 10 µm (FWHM)
自动图像识别
用于小型结构的可靠测量
用于小型结构的可靠测量
¹ ² 显示更多
显示更少
¹ 性能最多可提高 50%：与 DPP 相比，DPP 大幅提高了标准偏差，从而提高了测量能力，或大幅缩短了测量时间。
² Fischer 制造的高端毛细管光学 - 世界上唯一一家自己生产多毛细管的 X 射线荧光测量仪器制造商。有三种不同的高端多毛细管可供选择--为您的每项应用提供合适的解决方案：10 µm 无光晕、20 µm 无光晕或 20 µm 有光晕。
PCBs 的自动化 XRF 质量控制。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB 是利用 X 射线荧光对 PCB 进行可靠质量控制的真正专家。得益于功能强大的硅漂移探测器、超微聚焦射线管和多毛细管光学，XRF 仪器能以极高强度测量极小的测量点。因此，即使是最薄的层，也能可靠地进行测定。该设备还符合 IPC 对ENIG 和 ENEPIG 的要求 4552 和 4556，以及 4553A（银）和 4554（锡）。
迎接所有挑战。
可靠、快速的测量结果，可完成艰巨的测量任务
完全自动化。
让仪器为您工作
PCB 专家。
印刷电路板专业测量解决方案，符合 IPC 标准
市场上最先进的多毛细管光学。
我们自行生产的多毛细管光学元件可在较短的测量时间内提供出色的测量结果
准确无误。
通过自动图像识别，在小型结构上定位测量点
调试。
极其快速简单
DPP+ 数字脉冲处理器。
缩短测量时间或改善标准偏差*。
*与 DPP
PCB 仪器系列：PCB 专用测量解决方案，符合 IPC 4552 (ENIG)、4556 (ENEPIG)、4553A (银) 和 4554 (锡) 标准。
通用仪器，用于测量小结构、多层膜、功能涂镀层和 ≤ 3 纳米或 10 纳米的薄涂镀层。
有了 Ultra 微聚焦射线管，激发强度显著提高。这就确保了以最小的测量点实现更好的测量性能。
单独选择测量位置非常耗时。使用图像识别软件可以大大减少这种工作量。
特点
配备钨靶的 Ultra 微聚焦射线管， 的最小光斑上实现更高的性能；可选配钼靶
4 种可切换滤波器
样品高度可达 10 毫米
采用多毛细管光学，可在高强度下以较短的测量时间实现特别小的测量点
测量点直径约 10 或 20 µm (FWHM)
高精度可编程测量台，适用于最大 610 x 610 mm 的印刷电路板，可选配真空夹具
硅漂移探测器，面积为 20 或 50 mm²，可实现最高精度的薄膜检测
DPP+ 即使测量时间短也能达到最高精度
应用实例
- 测量电路板上最小的平面元件和结构，最大可达 610 x 610 毫米（24 x 24 英寸）
- 分析非常薄的涂镀层，如 ≤ 3 纳米或 10 纳米的金/钯层
- 自动测量，如质量控制
- 配有 10 μm 选项：结合大型硅漂移探测器，使用最小的测量点进行测量
- 使用真空台选项：在柔性 PCB 上进行测量
- 完全符合 IPC 标准 4552 和 4556（ENIG、ENEPIG）、4553A（银）和 4554（锡）。
您还有其他应用需求吗？请联系我们！
应用说明
教程
网络研讨会
宣传册
AN050 X-ray instruments for standard PCB applications
0.72 MB
AN072 Simplifying quality control on PCBs with automatic pattern recognition
0.67 MB
AN088 Fast and non-destructive nickel phosphorus analysis for printed circuit boards
2.40 MB
AN092 How to choose an XRF instrument
1.29 MB
AN105 μ-spot measurements of tin and tin alloy coatings on PCBs
0.82 MB
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
Setting up measurement equipment monitoring
Smaller, faster and more precise: Polycapillary optics for challenging applications
Report documentation
应用说明
AN050 X-ray instruments for standard PCB applications 0.72 MB AN072 Simplifying quality control on PCBs with automatic pattern recognition 0.67 MB AN088 Fast and non-destructive nickel phosphorus analysis for printed circuit boards 2.40 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN105 μ-spot measurements of tin and tin alloy coatings on PCBs 0.82 MB教程
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