FISCHERSCOPE® XDAL®
新建
6x
¹ ²
更快定位
更快定位
14x
¹
更快的自动对焦
更快的自动对焦
10x
¹
更高的摄像头分辨率
更高的摄像头分辨率
¹ ² 显示更多
显示更少
¹ 与 FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237 相比。
² 取决于样品表面。
易于操作、最高速度和精确度。
FISCHERSCOPE® XDAL® 是薄涂镀层和极薄涂镀层 < 0.05 μm 领域以及 ppm 范围内材料分析的理想之选。直观的状态指示灯和自动测量门，再加上现代化的 FISIQ® X XRF 软件，确保了测量过程的顺利进行，从而实现了更大的便利性、安全性和最高产量。
高速 Z 轴。
用于快速定位样品
2秒内自动对焦。
快速采集和对焦测量对象，实现更高效的测量过程
高分辨率全景摄像头。
通过更清晰、更详细的图像保持更好的全景效果
多区域 LED 照明。
无论表面如何，始终提供完美照明。
自动测量门。
手动或自动操作，实现最大灵活性
优化的测量几何形状。
由于增强了 X 射线管、样品和探测器之间的间距，测量精度无与伦比
直观的状态照明。
检查设备状态一目了然
带有多区 LED 照明的细节照相机：对所有样品表面（哑光、亮光、反光）进行最佳照明。
只需按下按钮或通过软件控制即可打开和关闭的电动门。实现流畅高效的流程。
改进后的 X 射线管、样品和探测器之间的距离可确保最大强度，并保证无与伦比的测量精度，从而获得最可靠和高质量的结果。
LED 灯带可显示设备的状态，一目了然。蓝光表示待机模式，绿光表示设备已准备好进行测量，橙色脉动表示正在进行测量。
FISIQ® X:
首款支持人工智能光谱模式的现代 XRF 软件。通过简化高效的工作流程提高您的工作效率。
特点
钨靶微聚焦射线管，可根据要求提供其他射线管
用于自动测量较大样品的 C 型槽外壳
硅漂移探测器 20 mm² 或 50 mm²，用于检测薄镀层的最高精度
4 个可切换准直器和 6 个可切换滤波器
型式认证的全保护装置
软件 FISIQ® X 具有人工智能支持的光谱模式，可实现更智能的测量过程
测量方向自上而下，测量距离无级调节
样品高度可达 140 毫米
用于自动测量的可编程测量台
应用实例
- 分析 ≤ 0.1 μm (0.004 mils) 的极薄镀层
- 测量电子和半导体工业中的功能镀层，例如引线框架或印刷电路板上的镀层。例如，引线框架、连接器或印刷电路板上的镀层
- 复杂多涂镀层系统的测定
- 自动测量，例如、 在质量控制中
- 确定焊料中的铅含量
- 确定镍磷涂层中的磷含量
- 确定印刷电路板的表面处理
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FISCHERSCOPE® XDAL® & XDV®
