FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XL
新建以实现最大吞吐量
在同类产品中稳定性出众
实现完美的样品处理
专为要求严苛的PCB而打造。旨在实现最大吞吐量。
快速、精准、可靠——这就是我们的 FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XL!作为备受信赖的FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB 的放大版,这款功能强大的仪器可助您高效应对大规模 PCB 应用,并提供市场领先的精度。 该仪器配备同类产品中最大的测量区域、自主研发的多毛细管光学系统、大型硅漂移探测器以及微聚焦射线管 Ultra,具备您所需的一切功能,即使是对最精细的结构和最薄的镀层(如 ENIG、ENEPIG、浸银或浸锡表面),也能实现高通量的质量控制。探索专为您设计的测量解决方案,轻松应对标准系统无法处理的PCB规格!
仅需一套系统即可测量大型PCB。
同类产品中最大的测量区域,610 × 610 毫米(24 × 24 英寸),支持一次性定位
真空吸盘确保样品处理完美无缺。
即使是最薄的PCB也能被牢固固定,无需重新定位(可选)
免手动工作台回缩——不止方便。
借助脚踏开关,在 XRF 测量过程中可高效、安全地处理大型 PCB
为智能工厂做好准备。
可无缝集成到自动化生产线中——或作为独立设备使用
自动确定正确的测量位置。
智能图案识别可加快测量流程,并最大限度地减少人工干预
业界领先的测量精度。
长期保持准确且可重复的测量结果
卓越的机架设计。
坚固耐用的工业级组件和久经考验的耐用设计,确保卓越的稳定性
符合 IPC 标准的可靠结果。
符合PCB镀层的相关IPC标准,确保最高程度的工艺可靠性和质量保证
功能
配备钨靶微聚焦设新冠 Ultra,可在最小光斑下实现更卓越的性能;可选配钼靶
4种可更换滤波器
样品高度最大可达10毫米
多毛细管光学系统可在高激发强度下实现特别小的测量光斑和较短的测量时间
测量光斑直径约为 10 µm 或 17 µm(全宽半高)
高精度、可编程测量台,适用于最大尺寸为 610 x 610 毫米的 PCB,可选配真空吸盘
20 mm² 或 50 mm² 的硅漂移探测器,可在薄膜上实现最高精度
DPP+ 即使在测量时间较短的情况下也能实现最高精度
用于激活测量台弹出功能的脚踏开关
应用示例
- 可对尺寸最小的平面元件及结构进行测量,适用于最大尺寸为 610 x 610 毫米(24 x 24 英寸)的 PCB
- 可分析极薄镀层,例如厚度≤3 nm 或 10 nm的金/钯层
- 自动化测量,例如在质量控制中
- 配备 10 μm 多毛细管光学组件选件:结合大型硅漂移探测器,实现最小测量光斑的测量
- 配备真空吸盘选件:可对柔性PCB进行测量
- 完全符合 IPC 标准 4552 和 4556(ENIG、ENEPIG)、4553A(银)以及 4554(锡)
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应用说明
AN088 Fast and non-destructive nickel phosphorus analysis for printed circuit boards 2.40 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN105 μ-spot measurements of tin and tin alloy coatings on PCBs 0.82 MB AN111 High-throughput quality control of the thinnest coatings and the finest structures on large-scale PCBs 3.21 MB教程笔记
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