探索我们全新的FISCHERSCOPE® XDAL®和XDV®,搭配先进的FISIQ® X软件。 了解更多!

FISIQ® X

新建
FISIQ® X

首款采用人工智能技术的 XRF 软件。

 

最新、最准确、最智能的 XRF 软件,用于市场上的涂镀层厚度测量和材料分析。

涂镀层厚度测量:
快 6 倍 ¹
材料分析:最多
快 13 倍 ²
基于工作流程的
用户界面
¹ ² 显示更多
显示更少

¹ Au/Pd/Ni/CuFe 镀层体系测量。WinFTM® 6 与 FISIQ® X 计算时间对比。

² 含 9 种不同元素的金合金层材料分析。WinFTM® 6 与 FISIQ® X 计算时间对比。

通过简化高效的工作流程提高生产力。

最大限度地减少用户影响并最大程度简化测量:这就是 FISIQ® X 这款最直观、最现代化的 XRF 软件所能实现的。该软件采用用户自定义菜单,可手把手地引导您完成基于工作流程的测量过程。改进的算法实现了卓越的稳定性、准确性和最高的可重复性,从而显著缩短了测量时间。FISIQ® X 目前适用于 FISCHERSCOPE® XDAL®FISCHERSCOPE® XDV® 设备。 

现代化用户界面。

中央操作功能和信息一目了然

智能工作流程。

实现高效的测量流程和简便的操作

改进的算法引擎。

即使是最具挑战性的测量任务,也能实现出色的稳定性、准确性和最高的重复性。

支持 AI 的光谱模式。

比以往任何时候都更方便地分析和比较光谱

可溯源的测量结果。

简单、有指导的校准工作流程和带有 DAkkS 证书的 Fischer 校准标准

校准。

标准库,可对校准标准进行清晰管理

工作流程 – 简单高效。

校准
测量
分析
报告
  1. 轻松创建校准
  2. 从库中选择标准片
  3. 测量标准片
  4. 校准成功
Calibration workflow FISIQ X
  1. 从任务栏中选择程序
  2. 放置样品
  3. 启动测量程序
  4. 轻松查看结果
Measuring workflow FISIQ X
  1. 放置样品
  2. 测量光谱
  3. 快速识别元素
  4. 分析光谱中各元素的浓度
Analysis workflow FISIQ X
  1. 选择数据组
  2. 选择报告模板
  3. 单击即可导出
  4. 自动生成 PDF 文件
Reporting workflow FISIQ X
  • 校准

      1. 轻松创建校准
      2. 从库中选择标准片
      3. 测量标准片
      4. 校准成功
      Calibration workflow FISIQ X
  • 测量

      1. 从任务栏中选择程序
      2. 放置样品
      3. 启动测量程序
      4. 轻松查看结果
      Measuring workflow FISIQ X
  • 分析

      1. 放置样品
      2. 测量光谱
      3. 快速识别元素
      4. 分析光谱中各元素的浓度
      Analysis workflow FISIQ X
  • 报告

      1. 选择数据组
      2. 选择报告模板
      3. 单击即可导出
      4. 自动生成 PDF 文件
      Reporting workflow FISIQ X
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