FISIQ® X
新建
简洁现代的
用户界面
用户界面
引导式且高效的
工作流程
工作流程
多种
用户角色
用户角色
旨在提升你的生产力。
更智能、更快速、更易用——这就是 FISIQ® X，市场上最直观、最现代的XRF软件！使用 FISIQ® X，您的镀层厚度测量速度可提升最高达6倍*，材料分析速度可提升最高达13倍*——得益于改进的算法和AI支持的光谱分析，旨在满足现代需求。FISIQ® X 可用于 FISCHERSCOPE® XDAL® 和 FISCHERSCOPE® XDV® 设备，使您的质量控制面向未来！
* 在 WinFTM® 6 与 FISIQ® X 之间的计算时间比较。
现代化用户界面。
中央操作功能和信息一目了然
智能工作流程。
实现高效的测量流程和简便的操作
改进的算法引擎。
即使是最具挑战性的测量任务，也能实现出色的稳定性、准确性和最高的重复性。
支持 AI 的光谱模式。
比以往任何时候都更方便地分析和比较光谱
可溯源的测量结果。
简单、有指导的校准工作流程和带有 DAkkS 证书的 FISCHER 校准标准
校准。
标准库，可对校准标准进行清晰管理
有了 FISIQ® X，您可以通过简化和高效的工作流程提高生产率。
不仅在 AI 支持的光谱模式下，比对和分析光谱变得更快更简单。
FISIQ® X 还支持快速批量分析，帮助您高效识别未知材料成分。
利用简单而有指导性的校准工作流程测量标准物质，并从即用型标准物质库中获益。
利用拖放功能轻松预设测量程序，提高过程安全性，确保结果的一致性和可重复性。
放入样品并启动测量程序。实时图像和所有相关信息都会清晰显示，让您一目了然。
只需点击几下，就能立即识别元素、一目了然地查看所有结果并生成报告。
FISIQ® X 与我们的 FISCHERSCOPE® XDAL® 和 FISCHERSCOPE® XDV® 兼容 - 使您的质量控制更上一层楼！
工作流程 – 简单高效。
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