镀层测厚

创新型台式涂镀层厚度测量仪，专为测量极薄且结构复杂的涂层以及在ppm级别的材料分析而设计。

创新型台式设备，用于测量极薄和复杂涂镀层的厚度，并以极低的检出限进行污染物分析。

灵活的测量设备，用于测量插头、触点或导线等丝状部件的涂层厚度，以及测定电镀槽液中的金属离子浓度和简单合金层的成分。

用于金属和贵金属分析以及简单形状样品涂层厚度测量和 RoHS 筛选的通用仪器。

坚固耐用的 XRF 测量设备，用于电镀散件的质量控制和镀液分析。

用于检测小零件和小结构、测量轻金属、硬涂层和薄电镀零件的通用仪器。

通用仪器，用于自动测量小于 0.05 μm 的薄层和极薄层，以及分析 ppm 范围内的材料。

适用于各种用途的高级型号--从检测极薄或复杂的层到以极低检测限进行 RoHS 检测。

通用仪器，用于测量最小、最平的部件和结构，以及复杂的多层系统。

采用多毛细管 X 射线光学系统的高端 XRF 测量设备，用于以最小的测量光斑和最大的测量距离测量最小的部件。

用于在直径为 6 - 12 英寸的晶圆上自动测量薄膜和多层系统的专用设备。

通用入门级仪器，用于简单测量 PCB 上的元件和小型结构。

用于测量小型结构、多层涂层、功能涂层和小于 0.1 µm 薄涂层的通用仪器。

可靠、全自动！XDV® µ-PCB 设备是测量电路板上最小结构和极薄涂层的专业解决方案。

移动式通用手持设备，用于精确测量涂层厚度和分析材料--即使是难以处理的材料组合。

通过 500 多种可溯源校准标准，您可以在每项测量任务中获得绝对可靠的测量结果。

与我们庞大的产品组合相匹配，您会发现测量设备的各种附件。

领先的工业仪器系列，用于在防腐和工业应用中快速、简便地测量涂层厚度。

凭借丰富的探头组合，可用于接触式涂层厚度测量的通用设备系列。

该系列设备在涂层厚度测量方面具有最大的灵活性和控制性。非常适合用于检测计划。

坚固耐用、功能强大的手持设备，用于测量印刷电路板上的铜厚，不受底层影响。

我们接触式产品组合中经验最丰富的手持设备--可靠地解决所有特殊应用。

测量从汽车到车顶板的复合涂层厚度的专家。

用于平行涂镀层厚度测量和材料测试的通用多测量系统，最多可配备八个测量模块。

利用β-反向散射法测定各种基底上有机层和金属层厚度的模块。

台式仪器，采用库仑法测量涂层厚度和电化学电位。

内部生产的探头用于涂层厚度测量，其质量经过了 Fischer 的验证，可满足最苛刻的测量任务。从市场上最大的探头组合中获益。

通过 500 多种可溯源校准标准，您可以在每项测量任务中获得绝对可靠的测量结果。

与我们庞大的产品组合相匹配，您会发现测量设备的各种附件。

坚固耐用的在线 XRF 仪器，用于在生产过程中测量固体带材、打孔网格或涂层膜。

功能强大的 XRF 仪器，用于测量和分析运行过程中的薄膜和薄膜系统，并与生产控制系统连接。

用于自动测量和分析直径达 12 英寸晶圆上的最小结构、极薄涂层和多层系统的专用设备。

适用于多种应用的在线通用测量系统。用于自动涂层厚度测量和材料测试的通用测量系统。

坚固耐用、高效的在线 XRF 仪器，可对多达 4 个电镀槽的金属离子浓度进行全自动分析。

自动测量解决方案，用于测量有机和电介质单层和多层膜的涂层厚度，以及利用太赫兹波进行材料分析。

通过 500 多种可溯源校准标准，您可以在每项测量任务中获得绝对可靠的测量结果。

与我们庞大的产品组合相匹配，您会发现测量设备的各种附件。