菲希尔常见问题

计算平均值的最简单方法是将所有数值相加，然后用总和除以数值的个数。这就是算术平均数。还有其他计算平均数的方法，但很少使用。

极差 R 显示最小和最大测量值之间的差距。要计算极差，需要使用最大测量值减去最小测量值。极差可能会受到异常值的极大影响，因此只有在测量值较少的情况下才有参考价值。对于大量数据，标准偏差更有意义。

标准偏差 σ 表示测量值围绕平均值的散布程度。标准偏差越大，说明测量值之间的差异越大。如果测量值都接近平均值，则标准偏差会较小。平均值和标准偏差对现实的描述程度取决于测量值的数量等因素。测量点越多，比值就越有意义。

标准偏差的大小不仅取决于测量值的离散程度，还取决于测量值的大小--平均值越大，标准偏差可能就越大。为了解决这个问题，通常用百分比来表示相对标准偏差，即变异系数 V。其计算方法为标准偏差除以算术平均值。与标准偏差一样，该值越高，也表明测量值的离散程度越大。

涂镀层测厚仪的测量精度取决于涂镀层厚度、表面状况、所用探头等因素。有关理想条件下的精度和重复性信息，请参见探头的技术数据表。

这里有多种测量选择：例如，我可以使用相敏涡流法测量可磁化金属上的不可磁化金属。铁上的锌就是一个例子。但也可以在不导电的塑料上测量不可磁化的金属，例如非导电基材上的铜。另一个测量实例是铜上的镍（可磁化金属与不可磁化金属）。

振幅敏感涡流法用于测量导电、不可磁化基体材料上的非导电涂层，例如铝的阳极氧化或涂料、铜的涂料或钛的陶瓷。

使用磁感应法，可以测量易磁化基体材料上的非磁性涂镀层，如铁上的锌或铁上的油漆。

在每种情况下，都必须使用实际镀镍零件及其已知涂层厚度进行校准。镍涂层的磁性可能会有很大差异，因此待测部件上的磁性可能与校准部件上的大不相同。这可能会导致测量误差，从而造成问题，尤其是在进货检验时。

首先查看操作说明书，看其中是否说明了错误及其纠正方法。如果没有，请将序列号、测量设备的确切名称、测量探头、Fischer 程序的版本号、错误编号（错误代码）、错误信息的确切措辞以及导致错误的情况发送给我们。在这里您可以找到您的联系人。

采用相敏涡流法（参见 DIN 50994 标准草案和 DIN EN 2004-1 标准）。

MS/m 表示兆西门子/米，相当于 1,000,000 西门子/米。该单位是比电阻率测量单位欧姆 x 平方毫米/米的倒数（逆数）。因此，1 西门子相当于 1 欧姆。

IACS 指 "国际退火铜标准"。英美国家通常使用这一计量单位。以下内容适用：100 %IACS 的比导电率相当于 58 MS/m。根据这一关系，任何导电率值都可以从一种测量单位转换为另一种测量单位。

比导电率直接取决于温度。温度越高，电导率越低。为确保测量值的可比性，电导率总是以 20°C 为基准。因此，菲希尔公司的电导率标准也给出了 20°C 的数值。

要使 SIGMASCOPE® 能够将实际电导率的测量值转换为 20°C，必须满足以下条件：

• 仪器必须在测量时的相同温度下进行校准。
• 或者在测量和校准过程中使用温度传感器（内部/外部）记录被测物体的温度。

如果不满足这些条件，可能会出现系统测量误差。

使用 FDX10 和 FDX13H 双工测量探头。这些探头要求热浸锌的最小涂层厚度为 70 µm，以便正确测量。

对于薄锌层，可使用 ESG2 和 ESG20 探头。只有当锌和钢之间没有扩散层时，才能使用这些探头。电镀和极薄的热浸锌镀层（如汽车工程）通常就是这种情况。用于重防腐的热浸锌镀层厚度通常超过 70 µm，通常会在钢和锌之间形成明显的扩散层。在这种情况下，不能使用 ESG2 和 ESG20 探头。

金属、塑料或陶瓷上的导电金属层。了解更多

必须满足以下条件：涂镀层表面清洁，支架夹具与待测物体接触良好。此外，还应选择与涂镀层厚度相应的剥离速度。更多信息

这些因素包括：涂层厚度、表面状况、使用的测量单元密封、脱离速度和涂层纯度。

将传输电缆连接至计算机和测量设备。在计算机上安装相应的驱动软件。在使用的评估程序中选择正确的仪器连接接口。要分隔测量值组，请在测量设备中设置组分隔符。

原因可能是是否以管理员权限加载了正确的驱动程序？计算机上的软件是否选择了正确的接口？ 另请参阅 "设备管理器"）。

对于我们的接触式设备，您可以在媒体库中找到最新版本的软件。

当您购买 FISCHER 测量设备时，您将通过 QR 代码方便地收到所有进一步的信息。

在比较测量值时，至少应使用以下特征值：算术平均值、标准偏差和单个测量值的数量。如果没有相应的标准偏差和测量值个数，就无法对平均值进行有意义的认真比较。

根据 DIN EN ISO 9001 标准，如果要求可追溯性，则必须对测量设备进行校准。每种物理测量方法都会受到涂层和基体材料特性的影响。这些属性包括：工件几何形状、导电性、磁性、涂层密度甚至测量表面。因此，每当涂层或基体材料的属性发生变化时，就很可能需要重新校准测量设备。

在平面上进行校准会在曲面上产生系统测量误差。因此，测量值会过高。这是因为测量设备将来自曲面物体的信号当作来自平面部件的信号进行评估。因此，当部件或测量表面的形状或几何形状发生变化时，必须进行定期校准。

可能的原因是使用了两个校准（特性曲线）不同的测量设备，或者使用了相同的测量设备但在不同的测量表面上进行了测量。测量设备测量值的正确性始终由校准标准来保证。对于磁感应和涡流测量设备，校准必须在未涂层的真实待测物体的测量表面上进行，涂层部件的涂层厚度也必须在该表面上测量。此外，还必须确保在同一测量点或同一测量面上进行测量，并记录足够数量的测量值，以获得有意义的平均值和有意义的标准偏差。只有这样才能获得具有可比性的测量结果。

在未涂层工件上测量一个标准箔，并测量几个测量值（通常为 5 至 10 个），然后在稍后进行测量的位置进行测量。菲希尔基材标准片对这种校准没有用处。随后，用户必须决定允许薄膜设定值与测量平均值之间存在哪些偏差，这样才能认为测量设备已充分校准。例如，DIN EN ISO 2178：2016 标准 "磁性基底金属上的非磁性涂层--膜厚测量--磁性方法"（第 8 章）和 DIN EN ISO 2360：2017 标准 "非磁性金属基材上的非导电涂层--膜厚测量--涡流法"（第 8 章）提供了在统计数据和测量膜厚的不确定性方面对测量设备校准的评估。

这些双工探头有两个测量通道。磁感应通道测量油漆和锌的总涂层厚度。振幅敏感涡流通道测量锌上的涂料层厚度。校准时，需要一个与原部件相对应的完全无涂层的钢部件和一个锌层厚度至少为 70 µm 的镀锌部件。探头的磁感应通道在未涂层钢件上进行校准。使用的校准箔片应符合预期的总涂层厚度范围（油漆和锌）。镀锌部分用于校准振幅敏感涡流通道。使用的校准箔片应能确定预期的涂料层厚度范围。

这些双工探头有两个测量通道。磁感应通道测量油漆和锌的总涂层厚度。相敏涡流通道测量油漆下的锌涂层厚度。校准时，需要一个与原部件相对应的完全无涂层的钢部件和一个具有典型锌涂层的镀锌部件。探头的磁感应通道在未涂层钢件上进行校准。所使用的标准箔应符合预期的总涂层厚度范围（油漆和锌）。在镀锌部件上，对探头的相敏涡流通道进行校准。此处不应使用校准箔，因为锌层本身就是校准层。在这一校准步骤中，只需对镀锌部分进行测量。无需在校准前测量锌层厚度作为参考层厚度。锌层的校准参考值由第一步校准的磁感应通道提供。

是的，确实如此。例如，如果测量设备是在涂层密度为 2 g/cm³ 的工件上校准的，而现在要在密度为 1 g/cm³ 的工件上进行测量，就会出现系统性测量误差。测量值会过低。出现这种情况的原因是，测量设备在评估来自新物体的信号时，将其视为密度为 2 g/cm³ 的涂层。

在测量技术中，正常化是指根据当前设置或新的基础材料调整测量任务。在更换初级滤波器、阳极电流、准直器或使用新的基底材料合金时，必须执行此操作。它可确保测量结果的一致性和准确性。

通过测量设备监控，您可以检查 XRF 设备是否正常运行，并评估测量结果是否真正反映了样品或设备缺陷。在测量设备监控中，在相同的条件下定期测量特定的参考样品（FISCHER 标准或客户参考部件）。如果测量结果符合之前根据应用设定的公差和干预限制，则可以认为 XRF 设备处于正常工作状态。

基准测量用于校准能量轴。操作员可以轻松快捷地完成这项工作。参考测量对于配备比例计数器的 XRF 设备尤为重要，建议定期进行参考测量。它可以校正带有比例计数器的 XRF 设备的温度影响。

校准标准可在WinFTM® 软件 的菜单项 "项目►校准标准 "下进行测量。这样可以确保之前的校准是正确的，设备仍然处于最佳状态，或者有必要重新校准。

重新认证的时间间隔取决于使用情况，可由用户自行决定。为确保较高的测量精度，通常间隔约为 1 至 3 年。

原则上，菲希尔标准片可以叠放。根据经验，比例计数器可使用 2 - 3 片，带 PIN 或硅漂移探测器的测量设备可使用 1 片。

不需要。纯元素板含有用于 XRF 饱和厚度的纯元素，只要小心使用就能保持稳定，可以长期使用。
唯一需要避免的是机械损伤和污染。

WinFTM® 软件可以测量基础材料成分相似但仍存在显著差异的样品系统。例如，铜合金就经常出现这种情况。在这种情况下，标准化或校准过程会要求提供基础材料校准集和被测物体的基础材料。前者是指成分已知并用于进一步校准的基础材料，后者是指被测客户部件的基础材料。在此必须注意避免混淆，否则会校准出系统误差。

获得 ISO 17025 认证的校准标准片是根据认证机构规定的程序进行测量的，其不确定度低于获得出厂证书的校准标准片。

校准标准片是具有已知且经过验证的成分的材料，用于调整和检查 XRF 设备。它们可确保测量结果准确且具有可重复性。

校准标准片应尽可能与待测材料和涂层成分相似。这样可以确保校准获得真实且准确的结果。

FISCHER 提供超过 500 种经认证的标准片，产品种类非常丰富。其中包括：

• 用于单层、多层、合金层、纯元素和合金的固体标准片
• 用于单层、多层和合金层的标准箔片
• 适用于特定行业和应用的预制套件

• 全球认可的可溯源性
• 可从 500 多种经认证的标准片中进行选择
• 凭借 DAkkS 认证实现最高精度
• 在全球拥有自己的认可校准实验室
• 可提供 kundenspezifische 标准片
• 全面的专家咨询

FISCHER 辛德尔芬根不规定特定的维护周期。是否需要将标准片寄回进行重新校准，会在很大程度上受到使用条件、环境和储存因素、贵公司对特定标准片的依赖程度以及内部检测设备要求的影响。因此，您或贵公司的检测设备监控团队最适合评估并确定标准片的适当送检周期。通常的参考周期约为一至三年。

您需要个性化咨询吗？请与我们联系

没有，证书没有固定的有效期。是否需要将标准片寄回进行重新校准，会在很大程度上受到使用条件、环境和储存因素、贵公司对特定标准片的依赖程度以及内部检测设备要求的影响。因此，您或贵公司的检测设备监控团队最适合评估并确定何时需要进行重新校准。

您需要个性化咨询吗？ 请与我们联系

是的，我们提供定制的特殊解决方案。一方面，在技术可行的前提下，我们可以根据您的具体要求组合目录中的不同涂层厚度。另一方面，如果技术上可行，我们也可以使用您自己的材料制作标准片。我们的 FISCHER 联系人很乐意与您讨论具体需求！

切勿以机械或化学方式清洁标准片！这样做可能导致损坏、不均匀和/或涂层厚度减小，从而可能改变校准结果。

Al、Cu、Ag 变色： 对于这些金属，金属表面的氧化会形成一层氧化物层，保护下方的金属免于进一步与氧气发生反应（钝化）。根据金属的不同，这可能会引起典型的变色，但不会对测量结果产生不利影响。
重要提示： 请勿清洁标准片！通过摩擦去除氧化物层可能导致校准结果失真。

Fe、Zn、Zn/Fe 变色： 对于铁氧化（锈蚀）或锌氧化（白锈），腐蚀会对标准片造成破坏。如果出现腐蚀，必须将这些标准片寄回更换。腐蚀性环境会加速腐蚀过程，因此请始终特别注意正确处理和储存标准片（另请参阅下一个问题）。

COULOSCOPE® 标准块的例外情况： 我们的 COULOSCOPE® 标准块在清洁方面属于例外。其随附一个“橡皮擦”，可用于重新活化氧化镍层。

请勿将标准片存放在易产生冷凝或具有腐蚀性的环境中。湿度过高可能会损坏涂层。

不可以，请勿撕下盒子上的 DAkkS 标识。DAkkS 证书只有与盒子上相应的 DAkkS 标识一起使用时才有效。

我们可以根据您的要求重新签发 DAkkS 校准证书。但请注意，这需要较长的处理时间，并会产生额外费用。为此，请直接联系您的专属 FISCHER 联系人，他将很乐意为您提供个性化报价。

遗憾的是，目前还没有，但我们正在努力实现。

您可以在此查看 条款和条件

可以，但这取决于设备中安装的 多毛细管光学系统。根据多毛细管光学系统的不同，可测量约 10–50 µm 范围内的测量点。使用这些非常小的测量点，可以显示局部不均匀性，例如“针孔”，或高粗糙度表面上的涂层厚度差异。因此，对我们的校准标准片进行单点测量时，可能会因材料不同而导致测量结果出现较大离散或校准结果失真。因此，对于使用我们的 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ 设备测量的标准片，应始终使用扫描模式。

由于标准片是单独制造的，并且不受标准化规范约束，因此我们无法签发符合性声明。此外，我们还提供用于 RoHS 测量和特殊涂层的标准片，其中部分标准片需要使用不符合 RoHS 要求的材料。

由于制造工艺的影响，我们标准片的涂层厚度可能会与规定值存在 ±20% 的偏差。这并不构成缺陷，而是处于允许的公差范围内。我们始终为您提供尽可能接近报价中规定数值的标准片。

所有测量值都会存在一定程度的变化。因此，重新认证后证书中注明的数值可能与标准片上标示的数值不同，但必须处于规定的测量不确定度范围内。对于按照 DIN EN ISO/IEC 17025:2017 认证的接触式测量箔片，由于系统相关因素，箔片上印刷的数值也可能与证书中列出的数值不同。当前有效的数值始终以证书中注明的数值为准。

是的，由于进行接触式测量，接触式测量标准片通常会产生自然磨损。一旦在标记的测量区域内出现凹痕或裂纹等可见损坏，我们建议更换标准片。

用于接触式测量设备的标准箔因使用存在磨损，因此不能重新认证。

箔片厚度的偏差可能是由测量装置造成的。我们推测这些箔片是使用平面压头测量的。使用这种方法测量箔片厚度时，箔片表面几乎不会产生压痕。因此，测得的是箔片的实际厚度。采用这种方法测得的箔片厚度通常略高于 FISCHER 规定的箔片厚度。

我们测量的校准箔片用于通过相应的测量探头校准我们的设备。FISCHER 测量探头 带有一个小球形端头，测量时将其放置在校准箔片或待测表面上。当探头放置在塑料箔片上时，球形端头会产生一个较小的压痕，其大小取决于校准箔片的厚度等因素。我们在测量校准箔片时会将这一压痕考虑在内。因此，Helmut Fischer 生产的校准箔片的标称值始终会略低于校准箔片的实际厚度。如果不考虑校准箔片上的这一压痕，在使用这些箔片校准我们的测量设备后，实际测量部件时就会得到错误的涂层厚度。