菲希尔常见问题

计算平均值的最简单方法是将所有数值相加，然后用总和除以数值的个数。这就是算术平均数。还有其他计算平均数的方法，但很少使用。

极差 R 显示最小和最大测量值之间的差距。要计算极差，需要使用最大测量值减去最小测量值。极差可能会受到异常值的极大影响，因此只有在测量值较少的情况下才有参考价值。对于大量数据，标准偏差更有意义。

标准偏差 σ 表示测量值围绕平均值的散布程度。标准偏差越大，说明测量值之间的差异越大。如果测量值都接近平均值，则标准偏差会较小。平均值和标准偏差对现实的描述程度取决于测量值的数量等因素。测量点越多，比值就越有意义。

标准偏差的大小不仅取决于测量值的离散程度，还取决于测量值的大小--平均值越大，标准偏差可能就越大。为了解决这个问题，通常用百分比来表示相对标准偏差，即变异系数 V。其计算方法为标准偏差除以算术平均值。与标准偏差一样，该值越高，也表明测量值的离散程度越大。

涂镀层测厚仪的测量精度取决于涂镀层厚度、表面状况、所用探头等因素。有关理想条件下的精度和重复性信息，请参见探头的技术数据表。

这里有多种测量选择：例如，我可以使用相敏涡流法测量可磁化金属上的不可磁化金属。铁上的锌就是一个例子。但也可以在不导电的塑料上测量不可磁化的金属，例如非导电基材上的铜。另一个测量实例是铜上的镍（可磁化金属与不可磁化金属）。

振幅敏感涡流法用于测量导电、不可磁化基体材料上的非导电涂层，例如铝的阳极氧化或涂料、铜的涂料或钛的陶瓷。

使用磁感应法，可以测量易磁化基体材料上的非磁性涂镀层，如铁上的锌或铁上的油漆。

在每种情况下，都必须使用实际镀镍零件及其已知涂层厚度进行校准。镍涂层的磁性可能会有很大差异，因此待测部件上的磁性可能与校准部件上的大不相同。这可能会导致测量误差，从而造成问题，尤其是在进货检验时。

首先查看操作说明书，看其中是否说明了错误及其纠正方法。如果没有，请将序列号、测量设备的确切名称、测量探头、Fischer 程序的版本号、错误编号（错误代码）、错误信息的确切措辞以及导致错误的情况发送给我们。在这里您可以找到您的联系人。

采用相敏涡流法（参见 DIN 50994 标准草案和 DIN EN 2004-1 标准）。

MS/m 表示兆西门子/米，相当于 1,000,000 西门子/米。该单位是比电阻率测量单位欧姆 x 平方毫米/米的倒数（逆数）。因此，1 西门子相当于 1 欧姆。

IACS 指 "国际退火铜标准"。英美国家通常使用这一计量单位。以下内容适用：100 %IACS 的比导电率相当于 58 MS/m。根据这一关系，任何导电率值都可以从一种测量单位转换为另一种测量单位。

比导电率直接取决于温度。温度越高，电导率越低。为确保测量值的可比性，电导率总是以 20°C 为基准。因此，菲希尔公司的电导率标准也给出了 20°C 的数值。

要使 SIGMASCOPE® 能够将实际电导率的测量值转换为 20°C，必须满足以下条件：

• 仪器必须在测量时的相同温度下进行校准。
• 或者在测量和校准过程中使用温度传感器（内部/外部）记录被测物体的温度。

如果不满足这些条件，可能会出现系统测量误差。

使用 FDX10 和 FDX13H 双工测量探头。这些探头要求热浸锌的最小涂层厚度为 70 µm，以便正确测量。

对于薄锌层，可使用 ESG2 和 ESG20 探头。只有当锌和钢之间没有扩散层时，才能使用这些探头。电镀和极薄的热浸锌镀层（如汽车工程）通常就是这种情况。用于重防腐的热浸锌镀层厚度通常超过 70 µm，通常会在钢和锌之间形成明显的扩散层。在这种情况下，不能使用 ESG2 和 ESG20 探头。

金属、塑料或陶瓷上的导电金属层。了解更多

必须满足以下条件：涂镀层表面清洁，支架夹具与待测物体接触良好。此外，还应选择与涂镀层厚度相应的剥离速度。更多信息

这些因素包括：涂层厚度、表面状况、使用的测量单元密封、脱离速度和涂层纯度。

将传输电缆连接至计算机和测量设备。在计算机上安装相应的驱动软件。在使用的评估程序中选择正确的仪器连接接口。要分隔测量值组，请在测量设备中设置组分隔符。

原因可能是是否以管理员权限加载了正确的驱动程序？计算机上的软件是否选择了正确的接口？ 另请参阅 "设备管理器"）。

对于我们的接触式设备，您可以在媒体库中找到最新版本的软件。

当您购买 FISCHER 测量设备时，您将通过 QR 代码方便地收到所有进一步的信息。

粗糙表面的零点总是无法可靠确定。因此，在可能的情况下，应打磨表面。气流和外部振动也会导致测量值波动较大，甚至测量错误。因此，应将仪器安装在受保护的位置。在测量非常小的力时，封闭的测量箱和阻尼台有助于避免外部影响。

可能是压头脏了或磨损了。WIN-HCU® 提供了清洁程序，应定期执行。还要检查是否选择了正确的力-时间机制。不同的测试参数会导致偏差。

如果这些措施都无济于事，还可以在压头磨损的情况下进行形状校正。形状修正只能由 Fischer 专家进行。

可能在显微镜上设置了错误的物镜。请尝试不同的物镜，并确保在WIN-HCU® 软件中为没有自动物镜识别功能的仪器选择了正确的物镜。

如果仍然看不到印模，则可能是选择的检测力过小。在这种情况下，可以使用原子力显微镜 (AFM) 等设备来观察压痕。另一个原因可能是显微镜位置和实际测量位置之间的偏移太大。偏移设置可在测量表 ► 显微镜设置中找到。

测量横截面涂层时，建议使用 Fischer 提供的合适的显微截面样品支架。如果在没有合适支架的情况下对横截面进行测量，由于安装过程的原因，每次测量的测量位置与显微镜位置之间都会存在系统偏移。

可能没有记录卸载曲线。请检查您的设置。此外，非常软的样品在载荷作用下会继续变形（蠕变），这就是为什么不能在所有情况下都确定压痕硬度的原因。使用蠕变设置来确定压痕蠕变_(CIT)。使用编辑 ► 应用设置 ► 参数 ► 直线，根据 ISO 14577 确定压痕模量_EIT 和压痕硬度_HIT。

在测量过程中，试样在载荷作用下发生了屈服。检查试样是否固定良好。根据部件的几何形状，使用我们合适的附件：HM 通用试样夹具或菲希尔 HM 箔夹具。

对于涂层厚度而言，所选的测试载荷过高。因此，基底材料会影响测量结果。

您只能以管理员身份激活动态测量模式。如果只有管理员权限而无法激活，通常是由于客户特定的安全相关软件阻止了激活。一种可能的办法是使用软件安全性较低的计算机。

形状校正需要管理员权限。请登录WIN-HCU®。形状校正只能由 Fischer 专家或合格人员执行。测量中止，无法开始新的测量。此外，压头位置值超过 400 µm。

您必须首先在设置 ► 选项 ► 用户自定义导出下定义用户自定义导出，然后才能执行导出。

选择? ► 关于 WIN-HCU 的信息。例如，测量设备的序列号和WIN-HCU® 的版本。

在比较测量值时，至少应使用以下特征值：算术平均值、标准偏差和单个测量值的数量。如果没有相应的标准偏差和测量值个数，就无法对平均值进行有意义的认真比较。

根据 DIN EN ISO 9001 标准，如果要求可追溯性，则必须对测量设备进行校准。每种物理测量方法都会受到涂层和基体材料特性的影响。这些属性包括：工件几何形状、导电性、磁性、涂层密度甚至测量表面。因此，每当涂层或基体材料的属性发生变化时，就很可能需要重新校准测量设备。

在平面上进行校准会在曲面上产生系统测量误差。因此，测量值会过高。这是因为测量设备将来自曲面物体的信号当作来自平面部件的信号进行评估。因此，当部件或测量表面的形状或几何形状发生变化时，必须进行定期校准。

可能的原因是使用了两个校准（特性曲线）不同的测量设备，或者使用了相同的测量设备但在不同的测量表面上进行了测量。测量设备测量值的正确性始终由校准标准来保证。对于磁感应和涡流测量设备，校准必须在未涂层的真实待测物体的测量表面上进行，涂层部件的涂层厚度也必须在该表面上测量。此外，还必须确保在同一测量点或同一测量面上进行测量，并记录足够数量的测量值，以获得有意义的平均值和有意义的标准偏差。只有这样才能获得具有可比性的测量结果。

在未涂层工件上测量一个标准箔，并测量几个测量值（通常为 5 至 10 个），然后在稍后进行测量的位置进行测量。菲希尔基材标准片对这种校准没有用处。随后，用户必须决定允许薄膜设定值与测量平均值之间存在哪些偏差，这样才能认为测量设备已充分校准。例如，DIN EN ISO 2178：2016 标准 "磁性基底金属上的非磁性涂层--膜厚测量--磁性方法"（第 8 章）和 DIN EN ISO 2360：2017 标准 "非磁性金属基材上的非导电涂层--膜厚测量--涡流法"（第 8 章）提供了在统计数据和测量膜厚的不确定性方面对测量设备校准的评估。

这些双工探头有两个测量通道。磁感应通道测量油漆和锌的总涂层厚度。振幅敏感涡流通道测量锌上的涂料层厚度。校准时，需要一个与原部件相对应的完全无涂层的钢部件和一个锌层厚度至少为 70 µm 的镀锌部件。探头的磁感应通道在未涂层钢件上进行校准。使用的校准箔片应符合预期的总涂层厚度范围（油漆和锌）。镀锌部分用于校准振幅敏感涡流通道。使用的校准箔片应能确定预期的涂料层厚度范围。

这些双工探头有两个测量通道。磁感应通道测量油漆和锌的总涂层厚度。相敏涡流通道测量油漆下的锌涂层厚度。校准时，需要一个与原部件相对应的完全无涂层的钢部件和一个具有典型锌涂层的镀锌部件。探头的磁感应通道在未涂层钢件上进行校准。所使用的标准箔应符合预期的总涂层厚度范围（油漆和锌）。在镀锌部件上，对探头的相敏涡流通道进行校准。此处不应使用校准箔，因为锌层本身就是校准层。在这一校准步骤中，只需对镀锌部分进行测量。无需在校准前测量锌层厚度作为参考层厚度。锌层的校准参考值由第一步校准的磁感应通道提供。

是的，确实如此。例如，如果测量设备是在涂层密度为 2 g/cm³ 的工件上校准的，而现在要在密度为 1 g/cm³ 的工件上进行测量，就会出现系统性测量误差。测量值会过低。出现这种情况的原因是，测量设备在评估来自新物体的信号时，将其视为密度为 2 g/cm³ 的涂层。

在测量技术中，正常化是指根据当前设置或新的基础材料调整测量任务。在更换初级滤波器、阳极电流、准直器或使用新的基底材料合金时，必须执行此操作。它可确保测量结果的一致性和准确性。

通过测量设备监控，您可以检查 XRF 设备是否正常运行，并评估测量结果是否真正反映了样品或设备缺陷。在测量设备监控中，在相同的条件下定期测量特定的参考样品（FISCHER 标准或客户参考部件）。如果测量结果符合之前根据应用设定的公差和干预限制，则可以认为 XRF 设备处于正常工作状态。

基准测量用于校准能量轴。操作员可以轻松快捷地完成这项工作。参考测量对于配备比例计数器的 XRF 设备尤为重要，建议定期进行参考测量。它可以校正带有比例计数器的 XRF 设备的温度影响。

校准标准可在WinFTM® 软件 的菜单项 "项目►校准标准 "下进行测量。这样可以确保之前的校准是正确的，设备仍然处于最佳状态，或者有必要重新校准。

重新认证的时间间隔取决于使用情况，可由用户自行决定。为确保较高的测量精度，通常间隔约为 1 至 3 年。

原则上，菲希尔标准片可以叠放。根据经验，比例计数器可使用 2 - 3 片，带 PIN 或硅漂移探测器的测量设备可使用 1 片。

不需要。纯元素板含有用于 XRF 饱和厚度的纯元素，只要小心使用就能保持稳定，可以长期使用。
唯一需要避免的是机械损伤和污染。

WinFTM® 软件可以测量基础材料成分相似但仍存在显著差异的样品系统。例如，铜合金就经常出现这种情况。在这种情况下，标准化或校准过程会要求提供基础材料校准集和被测物体的基础材料。前者是指成分已知并用于进一步校准的基础材料，后者是指被测客户部件的基础材料。在此必须注意避免混淆，否则会校准出系统误差。

获得 ISO 17025 认证的校准标准片是根据认证机构规定的程序进行测量的，其不确定度低于获得出厂证书的校准标准片。

校准标准片准是成分已知并经过验证的材料，用于调整和检查 XRF 设备。它们可确保测量结果的准确性和可重复性。

校准标准片应尽可能与待测材料和涂层成分相似。这样才能确保校准结果真实准确。

FISCHER 提供 500 多种认证标准片。这些标准片包括

- 单层和多层、合金层、纯元素和合金的固体标准片

- 用于单层和多层以及合金层的薄膜标准片，或用于特定行业和应用的预制成套标准片。

- 全球公认的可追溯性

- 500 多种认证标准片

- 最高精度得益于 DAkkS 认证，链接：https://www.helmut-fischer.com/why-fischer/dakks-calibration-laboratory

- 全球认可的校准实验室

- 可为客户提供个性化标准

- 全面的专家建议

我们 Fischer 不指定具体的维护周期。送回标准片进行重新校准的需求会受到使用条件、环境和储存因素以及贵公司对特定标准片和/或内部检测设备要求的依赖程度的显著影响。因此，您或您的检测设备监控团队最适合评估和确定送回标准片的适当时间间隔。典型的周期大约是每 1–3 年。

您需要单独咨询吗？请随时与我们联系。

证书没有固定的有效期。送回标准片进行重新校准的需求会受到使用条件、环境及存储因素，以及贵公司对特定标准片和/或内部检测设备要求的依赖程度的显著影响。因此，您或您的检测设备监控团队最适合评估和确定何时需要重新校准。

您需要单独咨询吗？请随时与我们联系。

是的，我们提供定制的特殊解决方案。一方面，我们可以根据技术可行的前提下，从目录中组合层厚度以满足您的具体需求。另一方面，如果技术允许，我们可以使用您的自有材料制作标准。请随时与您的菲希尔代表讨论您的需求。

切勿对标准片进行机械或化学清洗！这样做可能会造成损坏、不均匀性和/或层厚减少，从而影响您的校准结果。

铝、铜、银的变色：这些金属表面氧化形成一层氧化物层，屏蔽了下面的金属，防止进一步氧化（钝化）。根据金属种类，会出现典型的变色，但这不会对测量结果产生负面影响。

重要提示：请勿清洁您的标准片！通过磨损去除氧化层，会导致校准结果失真。

铁、锌、锌/铁的变色：铁氧化（生锈）或锌氧化（白锈）时，腐蚀会对标准片产生破坏性影响。如发生腐蚀，必须送回更换。由于腐蚀环境会加速腐蚀过程，请务必特别注意标准片的正确处理和储存（参见下一个问题）。

特殊情况下的 COULOSCOPE® 标准片：我们的 COULOSCOPE® 标准片例外。它们带有一块 "橡皮"，可让您重新激活镍氧化层。

请勿将标准片存放在冷凝或腐蚀性环境中。过高的湿度会损坏层。

不，请不要去除包装箱上的 DAkkS 标记。DAkkS 证书只有与包装箱上相应的 DAkkS 标记一起使用时才有效。

根据要求，我们可以重新签发 DAkkS 证书。但请注意，这需要较长的准备时间和额外的费用。为此，请直接联系您的 Fischer 个人代表，他将很乐意为您提供个性化的报价。

遗憾的是，目前还没有，但我们正在努力实现。

您可以在这里找到条款和条件。

可以，但这取决于设备中安装的多毛细管光学元件。根据多毛细管光学元件的不同，您可以测量大约 10-50 µm 范围内的测量点。利用这些非常小的测量点，您可以观察到局部的不均匀性，如 "针孔"，或高粗糙度表面上的厚度差异。因此，对我们的校准标准片进行单点测量（取决于材料）可能会导致较大的测量散差或校准结果失真。因此，对于使用FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ 设备测量的标准片，应始终使用扫描模式。

由于标准片是独立产品且不受规范限制，我们无法开具符合性声明。此外，我们还提供 RoHS 测量和特殊涂镀层的标准片，其中一些使用了不符合 RoHS 的材料。

我们的标准片允许涂镀层厚度存在 ±20％ 制造相关的偏差。这不属于缺陷，而是在允许的公差范围内。我们始终提供尽可能接近报价值的标准片。

所有测量值都有一定的变动范围。因此，经过重新认证后的证书中所示值可能与标签上的值不同，只要它们在规定的测量不确定度范围内。对于根据DIN EN ISO/IEC 17025:2017认证的接触式标准箔，由于系统因素，箔上印的值可能与证书中的值不同。当前有效值始终是证书中所示值。

是的，接触式标准箔因接触式测量通常存在自然磨损。一旦在标记的测量表面出现凹痕或裂纹，我们建议更换标准箔。

用于接触式测量设备的标准箔因使用存在磨损，因此不能重新认证。

箔厚度的偏差可能是由于测量方式不同。我们假定箔是用平面探头测量的，用这种方法，测量箔厚时几乎不会压入箔中，因此测量的是箔的实际厚度。用这种方法测得的箔厚通常比Fischer标定厚度稍厚。

我们测量的标准箔用于配合相应测量探头校准我们的设备。

Fischer 的测量探头有一个小球头，置于标准箔或被测表面。当探头置于塑料箔上时，小球头会产生一个小压痕，其大小部分取决于标准箔的厚度。测量我们的标准箔时会考虑该压痕。因此，Helmut Fischer制造的标准箔的标称值总是略低于箔的实际厚度。如果不考虑该压痕，使用这些箔校准后，对真实部件的层厚测量会出现错误。