Fischer 常见问题

计算平均值的最简单方法是将所有数值相加，然后用总和除以数值个数。这就是算术平均数。还有其他计算平均值的方法，但很少使用。

极差 R 表示最小测量值和最大测量值之间的差值。要计算极差，需要从最大测量值值中减去最小测量值。范围可能会被异常值严重扭曲，因此只有在测量值较少的情况下才有用。对于大量数据，标准偏差更有意义。

极差 R 表示最小测量值和最大测量值之间的差值。要计算极差，需要从最大测量值值中减去最小测量值。范围可能会被异常值严重扭曲，因此只有在测量值较少的情况下才有用。对于大量数据，标准偏差更有意义。

标准偏差的大小不仅取决于测量值的分散程度，还取决于测量值的大小--平均值越大，标准偏差就越大。为了解决这个问题，通常用百分比来表示相对标准偏差，即变异系数 V。在这里，标准偏差除以算术平均数。与标准偏差一样，这里的高值也表示测量值的高分散性。

根据环境介质（空气、氦气、真空）、探测器、光斑大小、原子序数以及应用情况的不同，我们可以测量原子序数为 11 的元素，层厚约为 0.005 - 60 µm。

测量点取决于准直器和测量距离。典型值为 30 µm 至 3 mm。

每项测量任务的测量精度都可能不同。这取决于 XRF 仪器的测量时间、测量点和校准标准的不确定性

根据德国辐射防护条例，我们的绝大多数XRF仪器都是通过型式认证的全防护仪器。

Export mask 的定义可用于确定导出哪些参数。导出设置定义了数据发送的时间和地点。测量数据将以文本文件的形式提供。

这里要求测量散射光谱。无需测量散射光谱，但可在菜单中加载：常规 ► 加载光谱并评估...

超级软件未启用。

可能是在文件►菜单中激活了打印单个值。在这种情况下，每个单个值都会发送到打印机缓冲区，当页面满时自动打印。停用"打印单个值"并清除打印机缓冲区。

如果数据块内的单个数值被删除，则测量值枚举中会出现一个破折号。可以在评估 ► 恢复测量值菜单中重新显示这些测量值。但是，如果一个数据块或一个项目的所有测量值都被删除，则无法恢复数据。

涂镀层测厚仪的测量精度取决于镀层厚度、表面状况、所用探头等因素。有关理想条件下的精度和重复性信息，请参见探头的技术数据表。

这里有多种测量选项：例如，我可以使用相敏涡流法测量可磁化金属上的不可磁化金属。铁上的锌就是一个例子。但也可以在不导电的塑料上测量不可磁化的金属，例如矶上的铜。另一个测量实例是铜上的镍（可磁化金属与不可磁化金属）。

振幅敏感涡流法用于测量导电、不可磁化基体材料上的不导电涂层，例如铝上的阳极氧化或涂料、铜上的涂料或钛上的陶瓷。

使用磁感应法可以测量易磁化基体材料上的非磁性涂层，如铁上的锌或铁上的油漆。

在每种情况下，都必须使用实际镀镍零件及其已知涂镀层厚度进行校准。镍涂层的磁性可能会有很大差异，因此待测部件上的磁性可能与校准部件上的大不相同。这可能会导致测量误差，尤其是在来货检验时。

首先查看操作说明书，看看其中是否描述了错误及其纠正。如果没有，请将序列号、测量设备的确切名称、测量探头、Fischer 程序的版本号、错误编号（错误代码）、错误信息的确切措辞以及导致错误的情况发送给我们。在这里您可以找到您的联系人。

采用相敏涡流法（参见 DIN 50994 标准草案和 DIN EN 2004-1 标准）。

MS/m 表示兆西门子/米，相当于 1,000,000 西门子/米。该单位是比电阻率欧姆 x mm²/m 测量单位的倒数（逆数）。因此，1 西门子相当于 1 欧姆。

IACS 表示 "国际退火铜标准"。英美国家通常使用这种测量单位。以下内容适用：100 %IACS 的比导电率相当于 58 MS/m。根据这一关系，任何电导率值都可以从一种测量单位转换为另一种测量单位。

特定的电导率直接取决于温度。温度越高，电导率越低。为确保测量值的可比性，电导率始终以 20°C 为基准。因此，Fischer 的电导率标准也给出了 20°C 的数值。

要使 SIGMASCOPE® 能够将实际电导率的测量值转换为 20°C，必须满足以下条件：

• 仪器必须在测量时的相同温度下进行校准。
• 或者在测量和校准过程中使用温度传感器（内部/外部）记录被测物体的温度。

如果不满足这些条件，可能会出现系统测量误差。

使用 FDX10 和 FDX13H 双面测量探头。这些探头要求热浸锌的最小镀层厚度为 70 µm，以便正确测量。

对于薄锌层，可使用 ESG2 和 ESG20 探头。只有当锌和钢之间没有扩散层时，才能使用这些探头。电镀和极薄的热浸锌镀层（如汽车工程）通常就是这种情况。用于重防腐的热浸锌镀层厚度通常超过 70 µm，通常会在钢和锌之间形成明显的扩散层。在这种情况下，不能使用 ESG2 和 ESG20 探头。

金属、塑料或陶瓷上的导电金属层。了解更多

必须满足以下条件：清洁的涂镀层表面，支架夹具与被测物的良好接触。此外，还应选择与涂镀层厚度相应的剥离速度。此外，还必须使用适当的电解液。了解更多

这些因素包括：涂镀层厚度、表面状况、使用的测量池密封、剥离速度和涂镀层纯度。

将传输电缆连接到计算机和测量设备。在电脑上安装相应的驱动软件。在使用的评估程序中选择仪器连接的正确接口。要分隔测量值组，请在测量设备中设置组分隔符。

原因可能是是否以管理员权限加载了正确的驱动程序？是否在计算机软件中选择了正确的接口？

对于粗糙的表面，无法始终可靠地确定零点。因此，如果可能的话，应该对表面进行抛光。气流和外部振动也会导致测量值波动较大，甚至测量错误。因此，应将仪器安装在受保护的位置。在测量极低的力时，封闭的测量箱和阻尼台有助于避免外部影响。

可能是压头脏了或磨损了。WIN-HCU®提供了清洁程序，应定期执行。此外，还要检查是否选择了正确的力-时间机制。不同的测试参数会导致偏差。

如果这些措施都无济于事，还可以在压头磨损的情况下进行形状校正。形状修正只能由 Fischer 专家进行。

可能是显微镜上的物镜设置错误。请尝试不同的物镜，并确保在WIN-HCU®软件中选择了正确的物镜，该软件适用于没有自动物镜识别功能的仪器。

如果仍然看不到印模，则可能是选择的检测力过小。在这种情况下，可以使用原子力显微镜 (AFM) 等设备来观察压痕。另一个原因可能是显微镜位置和实际测量位置之间的偏移太大。偏移设置可在测量表 ► 显微镜设置中找到。

测量横截面涂层时，建议使用 Fischer 提供的合适的显微截面样品支架。如果在没有合适支架的情况下对横截面进行测量，由于安装过程的原因，每次测量的测量位置与显微镜位置之间会有系统性偏移。

可能是没有记录卸载曲线。请检查您的设置。此外，非常软的样品在载荷作用下会继续变形（蠕变），这就是为什么不能在所有情况下都确定压痕硬度的原因。使用蠕变设置来确定压痕蠕变_(CIT)。使用编辑 ► 应用设置 ► 参数 ► 直线，根据 ISO 14577 确定压痕模量_EIT和压痕硬度_HIT。

在测量过程中，试样在载荷作用下发生了屈服。检查试样是否固定良好。根据部件的几何形状，使用我们合适的附件：HM 通用试样夹具或 Fischer 的 HM 箔夹具。

对于涂镀层厚度而言，选择的测试载荷过高。因此基底材料会影响测量。

只有管理员才能激活动态测量模式。如果有管理员权限却无法激活，通常是因为客户特定的安全相关软件阻止了激活。一种可能的办法是使用软件安全性较低的计算机。

形状校正需要管理员权限。请登录WIN-HCU®。形状校正只能由 Fischer 专家或合格人员执行。测量已中止，无法开始新的测量。此外，压头位置的值超过 400 µm。

您必须先在设置 ► 选项 ► 用户自定义导出下定义用户自定义导出，然后才能执行导出。

选择? ► 关于 WIN-HCU 的信息。例如，您可以在此找到测量设备的序列号和WIN-HCU® 的版本。

在比较测量值时，至少应使用以下特征值：算术平均数、标准偏差和单个测量值的数量。如果没有相应的标准偏差和测量值个数，就无法对平均值进行有意义和严格的比较。

根据 DIN EN ISO 9001 标准，如果需要溯源，则必须对测量设备进行校准。每种物理测量方法都会受到涂层和基材特性的影响。这些属性包括：工件几何形状、导电性、磁性、涂镀层密度甚至测量表面。因此，每当涂镀层或基材的属性发生变化时，就很可能需要重新校准测量设备。

在平面上进行校准会在曲面上产生系统测量误差。因此，测量值会过高。这是因为测量设备将来自曲面物体的信号当作来自平面部件的信号进行评估。因此，当部件或测量表面的形状或几何形状发生变化时，必须进行定期校准。

可能的原因是使用了两种不同校准（特性曲线）的测量设备，或者使用了相同的测量设备但在不同的测量表面上进行了测量。使用测量设备获得的测量值的正确性始终由校准标准来保证。对于磁感应和涡流测量设备，校准必须在无涂镀层的、真实的待测物体的测量表面上进行，涂镀层部件的涂镀层厚度也必须在该表面上测量。此外，还必须确保在同一测量点或同一测量面上进行测量，并记录足够数量的测量值，以获得有意义的平均值和有意义的标准偏差。只有这样才能获得具有可比性的测量结果。

在无涂镀层工件上测量一个校准箔片，并测量几个测量值（通常为 5 到 10 个），然后在随后要测量的位置进行测量。Fischer 底座校准板对这种校准没有用处。随后，用户必须决定允许薄膜设定值与测量平均值之间存在哪些偏差，这样才能认为测量设备已充分校准。例如，DIN EN ISO 2178：2016 标准 "磁性基底金属上的非磁性涂层--膜厚测量--磁性方法"（第 8 章）和 DIN EN ISO 2360：2017 标准 "非磁性金属基底材料上的非导电涂层--膜厚测量--涡流法"（第 8 章）提供了在统计数据和测量膜厚的不确定性方面对测量设备校准的评估。

这些duplex探头有两个测量通道。磁感应通道测量油漆和锌的总涂镀层厚度。振幅敏感涡流通道测量锌上的镀层厚度。校准时，需要一个与原部件相对应的完全无涂层的钢部件和一个至少有 70 µm 锌层的镀锌部件。探头的磁感应通道在无涂镀层钢件上进行校准。所使用的校准膜片应符合预期的总涂镀层厚度范围（油漆和锌）。镀锌部分用于校准振幅敏感涡流通道。使用的校准箔片应能确定预期的涂镀层厚度范围。

这些duplex探头有两个测量通道。磁感应通道测量油漆和锌的总涂镀层厚度。相敏涡流通道测量油漆下的锌镀层厚度。校准时，需要一个与原部件相对应的完全无涂层的钢部件和一个具有典型锌镀层的镀锌部件。探头的磁感应通道在无涂镀层钢件上进行校准。所使用的校准箔片应符合预期的总涂镀层厚度范围（油漆和锌）。在镀锌部件上，对探头的相敏涡流通道进行校准。此处不应使用校准箔，因为锌层本身就是校准层。在这一校准步骤中，只需对镀锌部分进行测量。无需在校准前测量锌层厚度作为参考层厚度。锌层的校准参考值由第一步校准的磁感应通道提供。

是的，有影响。例如，如果测量设备是在涂层密度为 2 g/cm³ 的工件上校准的，而现在要在密度为 1 g/cm³ 的工件上进行测量，就会出现系统测量误差。测量值会过低。出现这种情况的原因是，测量设备在评估来自新物体的信号时，将其视为密度为 2 g/cm³ 的涂镀层。

在测量技术中，归一化是指根据当前设置或新的基材调整测量任务。当初级滤波器、阳极电流或准直器发生变化时，必须进行此操作。如果基材的合金成分发生变化，也必须进行标准调整。

这就需要对测量设备进行监测。我们可以通过重新测量校准标准来检查 XRF 测量设备。标准称之为 "校准"。如果测量值与标准的标称值之间存在明显偏差，则有必要进行调整。

参考测量是对能量轴的重新校准。它可以校正带有比例计数管的 XRF 仪器对温度的影响。

可在菜单项►测量校准标准中重新测量校准标准。如果检测到偏差，则必须重新校准 XRF 仪器。

这取决于测量设备在校准标准上使用的频率。因此，可以由客户自行决定。一个典型的周期大约是每1至3年。

可以。根据经验，比例计数管测量设备可使用 2-3 箔，使用 PIN 或硅漂移探测器的测量设备可使用 1 箔。

不需要。您不需要重新认证纯元素板，因为标准件的饱和厚度具有非常高的稳定性。

在此，WinFTM®会询问基材。必须应用并测量校准标准片套件和测量对象的无涂镀层基底材料。注意：如果在此处放置了错误的部件，会对结果的正确性产生很大影响。

具有 ISO 17025 证书的校准标准是根据认证协会规定的程序进行测量的，其不确定度低于具有出厂证书的校准标准。

我们Fischer不指定具体的维护周期。送回标准片片进行重新校准的需求会受到使用条件、环境和储存因素以及贵公司对特定标准片片和/或内部检查设备要求的依赖程度的显著影响。因此，您或您的检查设备监控团队最适合评估和确定送回标准片片的适当时间间隔。典型的周期大约是每 1–3 年。

您需要个别咨询吗？请随时与我们联系。

证书没有固定的有效期。送回标准片片进行重新校准的需求会受到使用条件、环境及存储因素，以及贵公司对特定标准片片和/或内部检查设备要求的依赖程度的显著影响。因此，您或您的检查设备监控团队最适合评估和确定何时需要重新校准。

您需要个别咨询吗？请随时与我们联系。

是的，我们提供定制的特殊解决方案。一方面，我们可以根据技术可行的前提下，从目录中组合层厚度以满足您的具体需求。另一方面，如果技术允许，我们可以使用您的自有材料制作标准片片。请随时与您的个人Fischer代表讨论您的需求。

标准片绝不应进行机械或化学清洁！这样做可能会造成损坏、不均匀性和/或层厚减少，从而影响您的标准结果。

铝、铜、银变色：这些金属表面氧化形成一层氧化物层，屏蔽了下面的金属，防止进一步氧化（钝化）。根据金属种类，会出现典型的变色，但这不会对测量结果产生负面影响。

重要提示：请勿清洁您的标准片片！通过磨损去除氧化层，会导致标准结果失真。

铁、锌、锌/铁变色：铁氧化（生锈）或锌氧化（白锈）时，腐蚀会对标准片产生破坏性影响。如发生腐蚀，必须送回更换。由于腐蚀环境会加速腐蚀过程，请务必特别注意标准片的正确处理和储存（参见下一个问题）。

例外情况 COULOSCOPE® 标准片：我们的COULOSCOPE®标准片例外，可以使用一款“橡皮”重新激活镍氧化层。

请勿在有凝结或腐蚀性环境中存储标准片片。过高的湿度可能损害层。

不，请勿移除盒上的DAkkS标记。DAkkS证书仅在伴随相应DAkkS标记时有效。

如有需要，我们可以重新签发DAkkS证书。但请注意，这会有较长的交付时间和额外费用。请直接联系您的个人Fischer代表，他们将乐意为您提供个性化报价。

目前还没有，但我们正在努力实现。

您可以在这里找到条款和条件。

可以，但这取决于您设备中安装的多芯光学系统。根据多芯光学，您可以测量约10-50微米范围内的测量点。这些非常小的测量点可以可视化局部不均匀性，如“针孔”或高粗糙表面的厚度差异。单点测量我们的校准标准片（根据材料）可能导致较大测量散布或标准结果失真。因此，使用我们的FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ设备时，应始终使用扫描模式。

由于标准片是个别产品且不受规范限制，我们无法开具符合性声明。此外，我们还提供RoHS测量和特殊涂层的标准片片，其中一些使用了不符合RoHS的材料。

我们的标准片片存在制造相关的±20％的涂层厚度变化。这不属于缺陷，而是在允许的公差范围内。我们始终提供尽可能接近报价值的标准片片。

所有测量值都有一定的变动范围。因此，经过重新认证后的证书中所示值可能与标签上的值不同，只要它们在规定的测量不确定度范围内。对于根据DIN EN ISO/IEC 17025:2017认证的接触式箔，由于系统因素，箔上印的值可能与证书中的值不同。当前有效值始终是证书中所示值。

是的，接触式标准片因接触式测量通常存在自然磨损。一旦在标记的测量表面出现凹痕或裂纹，我们建议更换标准片片。

用于接触式测量设备的箔因使用存在磨损，因此不能重新认证。

箔厚度的偏差可能是由于测量方式不同。我们推测箔是用平头测量的。用该方法，测量箔厚时几乎不会压入箔中，因此测量的是箔的实际厚度。用该方法测得的箔厚通常比Fischer标定厚度稍厚。

我们测量的校准箔用于使用相应测量探头校准我们的设备。

Fischer测量探头具有一个小球头，置于校准箔或被测表面。当探头置于塑料箔上时，小球头会产生一个小压痕，其大小部分取决于校准箔的厚度。测量我们的校准箔时会考虑该压痕。因此，Helmut Fischer制造的校准箔标称值总是略低于箔的实际厚度。如果不考虑该压痕，使用这些箔校准后，对真实零件的层厚测量会出现错误。