FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD
性能得益于
DPP+
提升高达 50%
提升高达 50%
4 种
可切换准直器
可切换准直器
6 种
可切换滤波器
可切换滤波器
¹ 显示更多
显示更少
¹ 与 DPP 和 DPP+ 相比，标准偏差显著提高，因此测量能力增强，或测量时间显著缩短。
X 射线荧光分析可满足普遍的最高要求。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD 是 Fischer 产品组合中功能最强大的 X 射线荧光仪器之一。这款高级型号将您的测量性能提升到一个新的水平：与自主研发的数字脉冲处理器 DPP+ 结合使用，现在可以处理更高的计数率，从而缩短测量时间或提高测量结果的重复性。
经久耐用。
设计坚固，可满足特别高的要求
完全自动化。
只需轻轻一点，设备即可为您工作
快速测量设计。
只需几个简单的步骤，样品就可放置并准备好进行测量。可对多个零件进行自动测量
快速。
测量时间短，节省宝贵时间
RoHS 分析。
污染物检测精度高，性能卓越
DPP+ 数字脉冲处理器。
更短的测量时间或更高的标准偏差*。
*与 DPP 相比
利用市场上功能最强大的应用软件 WinFTM®，实时传输、评估和输出测量数据。
准直器最大 3 毫米：即使是难以测量的样品，也能在最短的测量时间内获得最高的测量强度。
可编程测量台，用于对小型结构进行自动测量。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD 是 Fischer 产品组合中功能最强大的 X 射线荧光仪器之一。
高分辨率和高性能的硅漂移探测器可以精确无损地测量最薄的层。
特点
钨靶微聚焦射线管
硅漂移探测器 50 mm²，超大有效面积 50 mm²
使用相应的附件测定电镀槽液中的金属含量
测量点直径约 0.25 毫米
采用 DPP+ 技术，计数率更高，测量时间大大缩短
通过型式认证的全保护装置
样品高度可达 140 毫米
4 种可切换准直器和 6 种可切换滤波器
应用实例
- 测量电子和半导体工业中的功能涂镀层，例如测定 2 纳米以下的金涂镀层厚度
- 分析电子和半导体工业中的薄涂镀层和极薄涂镀层，如 ≤ 0.1 μm 的金/钯层
- 复杂多层系统的测定
- 光伏、燃料电池和电池应用中的涂镀层厚度测量
- 根据电子、包装和消费品的 RoHS、WEEE、CPSIA 和其他指令，对铅和镉等有害物质进行痕量分析
- 黄金、其他贵金属和贵金属合金的分析和真实性检查
- 直接测定功能性镍磷层中的磷含量
- 测定电镀槽液中的金属含量
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应用说明
产品视频
教程
网络研讨会
宣传册
AN001 Au/Pd Coatings in the nm Range on Printed Circuit Boards
0.48 MB
AN002 Phosphorous Content in Electroless Nickel Directly Measurable
0.52 MB
AN003 High repeatability precision and trueness of Au/Pd coating measurements on leadframes
0.69 MB
AN004 Determination of harmful substances in very small concentrations – RoHS
0.48 MB
AN006 Determination of platinum, rhodium and palladium in automotive catalytic converters
0.58 MB
AN021 Trace element analysis in materials for fashion jewellery and accessories
0.51 MB
AN073 Analysis of harmful substances in textiles for Oeko-Tex® certification
0.75 MB
AN092 How to choose an XRF instrument
1.29 MB
AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging
0.75 MB
AN097 Prior to hallmarking, for high sample volumes or large test parts: Measure gold content quickly and reliably
0.69 MB
AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background
0.41 MB
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performance
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
Setting up measurement equipment monitoring
ZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated baths
Report documentation
应用说明
AN001 Au/Pd Coatings in the nm Range on Printed Circuit Boards 0.48 MB AN002 Phosphorous Content in Electroless Nickel Directly Measurable 0.52 MB AN003 High repeatability precision and trueness of Au/Pd coating measurements on leadframes 0.69 MB AN004 Determination of harmful substances in very small concentrations – RoHS 0.48 MB AN006 Determination of platinum, rhodium and palladium in automotive catalytic converters 0.58 MB AN021 Trace element analysis in materials for fashion jewellery and accessories 0.51 MB AN073 Analysis of harmful substances in textiles for Oeko-Tex® certification 0.75 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN097 Prior to hallmarking, for high sample volumes or large test parts: Measure gold content quickly and reliably 0.69 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MB产品视频
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