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发现内联电镀槽分析的新标准。发现新的FISCHERSCOPE® XAN® LIQUID ANALYZER
坚固,精确。新的DMP®系列
现在就来发现新的接触式测厚仪系列
更快速。
更精确。
XDV
在此体验新的XDV®系列

Helmut Fischer - 用于涂层厚度测量、材料分析和材料测试的一流测试仪器

Helmut Fischer GmbH是表面测试领域的全方位供应商,自1953年以来一直致力于开发用于表面测试的高精度仪器。作为一个领先的测量仪器制造商,我们的产品组合从用于便携快速测量的简单手持设备到能够自动监测生产的完全集成的高端系统。我们针对每一种应用提供正确的解决方案。

我们的公司

我们的能力一目了然
测量
技术
行业
客户评价
Beate Brand, 实验室经理, KNEISSLER Brüniertechnik GmbH
Steve Green 英国CATRA公司的冶金部主管。
Frédéric Saulcy, CEO of Saulcy Traitement de Surface, CH
Paul Comer, Technical Director at Graphic Plc, UK
Hampton Watkins, Quality and Logistics Manager at Greenwood Fabricating & Plating (GF&P), USA
Karsten Seidel, Employee Audi AG, DE

关于我们您应该了解什么

对我们在世界各地的经历感到好奇吗? 那么您就来对地方了。 我们公司的精彩故事等待着您。 我们还邀请您参加我们的活动。 让我们为您的应用提供智能解决方案,让您在现场和色彩中得到启发并说服您。

新闻与新闻 活动

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ 系列
产品亮点FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ 系列FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ 系列
FISCHERSCOPE X-RAY PCB系列
产品亮点FISCHERSCOPE X-RAY PCB系列FISCHERSCOPE X-RAY PCB系列
FISCHERSCOPE XAN LIQUID ANALYZER
产品亮点FISCHERSCOPE XAN LIQUID ANALYZERFISCHERSCOPE XAN LIQUID ANALYZER
DMP10-40
产品亮点DMP10-40DMP10-40

现场个性化咨询,全方位优质服务

一切都来自单一来源以实现完美的质量管理:这是 Helmut Fischer GmbH 的主张!为您获得最佳测量结果提供全套服务。因为精确、可靠的测量需要的不仅仅是一流的测量设备。从详细的需求分析开始,选择正确的测量设备。通过专业的调试和产品培训,以实现最佳的设备使用。为长期设备使用提供全面和快速的服务。仅 Helmut Fischer 提供:通过 ISO / IEC 17025 认证的 Fischer 校准标准,您可以精确且可追溯的进行测量。也能将您的样品认证为校准标准!

涂层厚度测量、XRF 分析、纳米压痕等方面的专家。

“Measuring Made Easy”。根据这一座右铭,Helmut Fischer自1953年以来一直在开发和制造用于工业和实验室的涂层厚度测量、材料分析、材料测试和显微硬度的测量仪器。创始人Helmut Fischer的发明精神至今仍是Fischer公司企业文化的一个组成部分。这一切都始于一个测量涂层厚度的手持设备。1981年,第一台用于精确、无损测量镀层厚度和XRF材料分析的X射线荧光测量仪问世。随后,纳米压痕和划痕测试领域的进一步测量和测试仪器以及自动测量解决方案,也相继问世。

广泛的产品组合,包括手持式设备、XRF光谱仪、台式仪器、自动化等

Fischer的产品系列包括涂层厚度测量、XRF分析、纳米压痕、划痕测试、电导率测量、铁氧体含量测定等领域的测量技术。从用于防腐领域快速涂层厚度测量的手持式设备,到用于简单的黄金测试或电镀领域的XRF光谱仪,再到电子行业的自动化高端系统。我们的测量和分析仪器易于使用,非常精确且极其可靠--这就衡量我们的方式!

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