校准

至少应考虑哪些统计参数以进行测量值比较?

以下参数对于测量值比较非常重要:算术平均值、标准偏差、单次测量数。

没有相关标准偏差与单次测量数,就无法以有意义的方式将平均值进行相互比较。

为什么需要校准?

每种物理测量法均受到涂层与基质的参数影响。这些参数为:部件几何形状、电导率、可磁化性、涂层密度、测量表面等。

每次这些涂层或基质参数改变时,都需要对测量仪器进行重新校准。 

我正在平板上对我的测量仪器进行校准。现在我想要在直径较小的弯曲部件上进行测量。在没有进一步校准的情况下是否可以继续操作?

不可以,在平板上的校准将导致弧形表面上的系统测量误差。这意味着测量值将过大。事实的确如此,因为仪器将以平板样品的信号的评级方式对样品的测量信号进行评级(这里是指弯曲部件)。

为什么双方获得的测量结果不同?可能的原因是什么?

校准标准可确保测量仪器的精度。必须在实际无涂层样品上执行校准。此外,必须注意一定要在相同的测量位置上进行测量。为了得到准确的平均值,执行足够的测量非常重要。

如何为触觉测量验证校准?

可通过重新测量无涂层样品上的校准箔检查校准。稍候测量时,也必须是同样的测量位置。Fischer Base 校准板不适用于该用途。

何时使用 FISCHER X 射线仪器的标准化?

标准化将导致针对当前设置或新基质的测量任务调整。修改主滤光镜、阳极电流或准直器时必须执行该操作。如果合金成分或样品的基质已改变,也需要执行该操作。

我的 FISCHER X 射线仪器似乎测量出了不太合理的值。我如何确定我的测量是正确的?

您应该选择测量设备监控。您将通过重新测量校准标准对测量仪器进行检查。如果与正确值不匹配,则需要进行调整。

对于 FISCHER X 射线仪器而言,参考测量代表什么?

参考测量是能量轴的新校准值。这与正比计数器的校正有关,并受温度的影响。

如何检查 FISCHER X 射线仪器上的校准?

为了检查校准,有必要在菜单位置“产品”,“测量校准标准”中重新测量校准标准。如果发现任何偏差,则需要对仪器进行重新校准。

需要每隔多久对 FISCHER X 射线校准标准进行重新认证?

这取决于使用情况,客户可自行决定。  典型间隔时间为 1-3 年一次。

在校准期间是否能够堆叠 X 射线校准箔?

是的,可以。有一个大致的使用原则:对于正比计数器,可以使用 2-3 个箔。对于配有 PIN/SDD 探测器的仪器,可使用 1 个箔。

是否需要为 FISCHER X 射线仪器重新认证板的纯元素?

不需要。您无需重新认证板,因为元素具有饱和厚度,因此非常稳定。

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