校准与附件

为了能得到准确的测量结果,所有FISCHER仪器都随机配备有操作直观、功能强大的软件,用于涂镀层厚度测量、材料分析、材料测试以及纳米压痕测试。借助测量台、软件功能扩展等方式,您可以根据自己的需求对仪器进行更具针对性的调整,同时也可提高操作便利性以及测量结果的精度。

测量台与样品支架

提高测量效率和可靠性:即使是复杂几何形状的样品,测量台与样品支架都能够简化测量。

DataCenter,DataCenter IP

凭借DataCenter 软件以及 DataCenter IP、Inspection Plan 软件,可自动分析测量值,从而节省时间并消除错误根源。

WinFTM

所有FISCHER X射线仪器的核心:WinFTM 结合了适用于专业涂镀层厚度测量与材料分析的所有功能。

校准

当精度非常重要时:需要各种校准附件,用于材料分析测试、涂镀层厚度测量以及纳米压痕测试。

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南通菲希尔测试仪器有限公司
上海/中国

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