台式测量仪器

FISCHER 的台式涂镀层测厚仪使用 X 射线荧光法或多探头的接触式测量技术,能提供无与伦比的性能和灵活性。由于运用了各种测量技术,因此能够为任何测量任务提供合适的解决方案。台式仪器可以通过软件和硬件接口轻松集成到生产和质量管理系统中。

XAN500

一台仪器,三种作业模式:XAN®500不只是一台手持便携式XRF设备,它还可以转变为台式仪器或者整合到生产线中。

MMS PC2

采用不同测量技术的模块化系统:非常适用于与涂镀层厚度测量和材料测试相关的各种需求。

BETASCOPE

通过 β 射线背散射法进行涂层厚度测量:甚至可用于厚度小于 3 µm 的薄层,以及软涂层或塑料涂层。

CMS2

台式测厚仪,几乎可测量金属或非金属底材上所有金属镀层(包括多镀层)的厚度。

GOLDSCOPE

GOLDSCOPE系列X射线荧光仪器是专为分析黄金和其他贵金属而设计的

XAN

用于快速、高效地测量镀层厚度及材料成分分析的测量仪器。

XUL / XULM

基于 X 射线荧光法的测试仪器,坚固耐用,快速、高效地测量镀层厚度,特别适合电镀行业。

XDL / XDLM / XDAL

功能强大:XDL 系列仪器具有全面的配置方案,可手动或自动测试,是镀层厚度测量与材料成分分析的理想之选。

XDV-SDD

FISCHERSCOPE® XDV-SDD专为满足最高要求的镀层厚度测量和材料分析而设计

XDV-µ

FISCHER的XDV-µ型系列仪器,可用于测量电子或珠宝等行业中最微小结构的产品

XUV

X 射线荧光仪器,配有用于分析轻元素的真空测量室。

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