XAN

XAN® 系列仪器特别适合测量和分析超薄镀层,即使镀层成分复杂或含量微小也都能准确测量。该系列产品简单易用且性价比高,因此在同类产品中脱颖而出。

XAN 系列

特性:

  • 操作简单且性价比高。
  • 自下而上进行测量,从而快速、简便地定位样品
  • 广泛适用:为各个行业的典型需求量身定制了多种型号
  • 以非破坏性方式进行镀层厚度测量与元素分析
  • 带有高性能 X 射线管和高灵敏度的硅漂移探测器 (SDD)的机型,可对极薄镀层及微量成分进行精确测量

应用:

镀层厚度测量

  • 厚度仅为几纳米的贵金属镀层
  • 时尚首饰:对代镍镀层等新工艺多镀层系统进行分析
  • 抗磨损镀层,如:对化学镍镀层的厚度及磷含量进行测量
  • 测试纳米级基础金属化层(凸点下金属化层,UBM) 

材料分析

  • 测定黄金首饰等贵金属、手表和硬币的成分与纯度
  • 专业实验室、检测机构以及科研院校中常规材料分析
  • 依据 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他准则,检测电子元件、包装以及消费品中不合要求的物质(例如重金属)
  • 功能性镀层的成分,如测定化学镍中的磷含量

联系 FISCHER

Contact

南通菲希尔测试仪器有限公司
上海/中国

直接联系
中国上海市普陀区真北路915号22楼, 上海/中国
电话: (+86) 21 3251 3131
电子邮件: china@helmutfischer.com
在线联系表格