XUV

XUV® 系列设备的真空测量室能够通过 X 射线荧光分析 (RFA) 检测原子序数从Na(11)开始的轻元素。由于空气会吸收轻元素的荧光X射线,因此在大气环境中通常无法使用该方法。因此,该仪器非常适合对要求严苛的镀层厚度进行测量和材料分析。

XUV

特性:

  • 检出限低、重复精度高,以及测量适用性广,因此特别适用于研究和开发使用
  • 配备真空测量室和高性能硅漂移探测器,能够实现精确测量,尤其是对轻元素的测试
  • 通过可编程 X、Y 和 Z 轴进行自动测试
  • 准直器和滤波器可切换,因此可适用于各种材料和测试条件

应用:

涂层厚度测量

  • 原子序数从Na(11)开始的轻元素镀层,可测量厚度低至纳米级
  • 铝镀层和硅镀层

材料分析

  • 测定宝石的真伪与原产地
  • 常规材料分析和取证
  • 高分辨率痕量分析

联系 FISCHER

Contact

南通菲希尔测试仪器有限公司
上海/中国

直接联系
电话: (+86) 21 3251 3131
电子邮件: china@helmutfischer.com
在线联系表格