引线框架

为了迎合行业的需求，引线框架中的镀层（例如：金、钯和镍）越来越薄（低至几纳米）。因此，Fischer开发了高精度的X射线荧光仪器来满足这种异常困难的测试应用。Fischer的X射线仪器可以同时测量厚度和成分，短时间的测量就能获得高重复性的测量结果。