X-RAY XAN 500, 便携式XRF测试仪

如果样品不能放进仪器，仪器必须取找样品！ 通过FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500，Fischer提供了一种便携式的X射线荧光（XRF）仪器，它可用于镀层厚度测量和合金材料分析。

尽管它的体积很小，但XAN500与实验室中能找到的任何XRF仪器都是一样的。它配有最新的硅漂移探测器（SDD）保证了在几秒钟内就能得到正确的测量结果。即使时涉及多层和多种元素合金的复杂测量任务也能可靠的完成。

尤其是在测量涂层厚度时，确保装置与样品之间的距离保持恒定，并且光束路径是直线的非常重要。 XAN500的三点支撑使您能够安全、稳定地摆放仪器，以便精确测量涂层。测试结果可以直接显示在仪器的显示屏上。为了进一步分析数据，XAN500配备了完整的WinFTM®软件套件。

用WinFTM进行镀层测厚和材料分析都是基于基本参数法的。这使得无需事先校准即可精确测量，即无标准测量。对于那些只有最高精度才能满足要求的场合，我们还提供DAkkS认证的标准片，使您能快速简便的校准您的特定测量任务。

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