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FAQ – 涂层测厚仪和XRF光谱仪的校准

几十年来,Fischer一直代表着最高质量和精度的测试仪器。我们把在测量技术领域积累的技术诀窍不仅用于测试仪器的制造,还用于测试仪器校准等相关服务。关于正确的校准,我们在下面为您总结了一些重要的问题和解答。

 

在下面,您将看到有关涂层测厚仪校准以及XRF光谱仪校准的一些重要问题。

涂层测厚仪的校准

比较测量值时应考虑哪些统计参数?

以下参数对于比较测量值很重要:算术平均值、标准偏差、单个测量值的数量。

如果没有相关的标准偏差和测量的数量,则无法以有意义的方式相互比较平均值。

为什么需要校准?

每种物理测量方法都受涂层和基体参数的影响。这些参数是:工件的几何形状、电导率、磁化率、镀层密度、测量表面等。

每次涂层或基材的这些参数发生变化时,都需要重新校准测量仪器。

我正在一块平板上校准我的测量仪器。现在我想测量一个小直径的曲面样品。在不进行任何进一步校准的情况下,是否可以继续?

不行,在平板上的校准会在曲面上引起系统上的测量误差。这意味着测量值将过大。这是因为仪器对样品(这里是曲面物体)的测量信号进行了评估,但是以平面样品进行的评估。

为什么双方会得到不同的测量结果?原因是什么?

计量器具的精度由校准片保证。校准必须在真实、无涂层的样品上进行。此外,必须注意在相同的测量位置进行测量。为了得到一个有效的平均值,进行足够多次的测量也是很重要的。

如何验证干膜测厚仪测试的校准效果?

通过把校准箔放在样品基材上进行测量来检查校准效果。这个测量位置必须要与你之后要测量的位置相同。Fischer随机配备的基材校准板并不适用于此目的。

XRF光谱仪的校准

何时对FISCHER X射线仪器进行归一化?

归一化会对当前测量任务的设置和基材设定进行调整。如果主滤波器或阳极电流以及准直器的设置被调整过了,则必须进行归一化。如被测样品的合金成分或基材成分发生了变化,也需进行归一化。

我的FISCHER X射线仪器测出了看上去不合理的数值。我如何确定我测的是对的?

接下来您应该进行设备管控。您可以通过重新测试标准片来检查仪器。如未得到正确的数值,则需要进行调整。

对于FISCHER X射线仪器而言,基准测量意味着什么?

基准测量是对能量轴的一次新的校准。在不同温度的影响下,与比例接收器的校准有关。

如何在FISCHER X射线仪器上验证校准结果是否准确?

为了验证校准结果,您需要在菜单“产品”位置选择“测试标准片”。如果你发现存在差值,则仪器需要再次校准。

FISCHER X射线标准片的重新认证周期是多少?

这取决于使用频率,客户可自行决定。一般为1-3年一次。

在校准时能否叠加X射线标准箔?

是可以的。有一个简单的使用准则:对于配备比例接收器的仪器,可以叠加2-3片标准箔。对于带有PIN/SDD探测器的仪器,只可以叠加一片标准箔。

是否需要为FISCHER X射线仪器的纯元素片进行重新认证?

不是必要的。你不需要重新认证纯元素块,因为元素的厚度是饱和的,所以非常稳定。

在归一化和校准过程中如果仪器显示“标准片基材和产品底材”,接下来应该怎么操作?

在这里,WinFTM是在要求测量基材材料。请将校准标准片中无镀层的基材和被测样品还未进行电镀的基材进行放置和测量。注意:如果仪器上放置了错误的东西,这会严重影响结果的正确性!

对标准片而言,生产厂商出具的证书和ISO 17025证书有什么区别?

具有ISO 17025证书的校准标准片是按照认证机构定义的严格程序进行测量的;与制造商证书的校准标准相比,它们的测量不确定性更小。

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