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比较测量值时应考虑哪些统计参数?

以下参数对于比较测量值很重要:算术平均值、标准偏差、单个测量值的数量。

如果没有相关的标准偏差和测量的数量,则无法以有意义的方式相互比较平均值。

为什么需要校准?

每种物理测量方法都受涂层和基体参数的影响。这些参数是:工件的几何形状、电导率、磁化率、镀层密度、测量表面等。

每次涂层或基材的这些参数发生变化时,都需要重新校准测量仪器。

我正在一块平板上校准我的测量仪器。现在我想测量一个小直径的曲面样品。在不进行任何进一步校准的情况下,是否可以继续?

不行,在平板上的校准会在曲面上引起系统上的测量误差。这意味着测量值将过大。这是因为仪器对样品(这里是曲面物体)的测量信号进行了评估,但是以平面样品进行的评估。

为什么双方会得到不同的测量结果?原因是什么?

计量器具的精度由校准片保证。校准必须在真实、无涂层的样品上进行。此外,必须注意在相同的测量位置进行测量。为了得到一个有效的平均值,进行足够多次的测量也是很重要的。

如何验证干膜测厚仪测试的校准效果?

通过把校准箔放在样品基材上进行测量来检查校准效果。这个测量位置必须要与你之后要测量的位置相同。Fischer随机配备的基材校准板并不适用于此目的。

何时对FISCHER X射线仪器进行归一化?

归一化会对当前测量任务的设置和基材设定进行调整。如果主滤波器或阳极电流以及准直器的设置被调整过了,则必须进行归一化。如被测样品的合金成分或基材成分发生了变化,也需进行归一化。

我的FISCHER X射线仪器测出了看上去不合理的数值。我如何确定我测的是对的?

接下来您应该进行设备管控。您可以通过重新测试标准片来检查仪器。如未得到正确的数值,则需要进行调整。

对于FISCHER X射线仪器而言,基准测量意味着什么?

基准测量是对能量轴的一次新的校准。在不同温度的影响下,与比例接收器的校准有关。

如何在FISCHER X射线仪器上验证校准结果是否准确?

为了验证校准结果,您需要在菜单“产品”位置选择“测试标准片”。如果你发现存在差值,则仪器需要再次校准。

FISCHER X射线标准片的重新认证周期是多少?

这取决于使用频率,客户可自行决定。一般为1-3年一次。

在校准时能否叠加X射线标准箔?

是可以的。有一个简单的使用准则:对于配备比例接收器的仪器,可以叠加2-3片标准箔。对于带有PIN/SDD探测器的仪器,只可以叠加一片标准箔。

是否需要为FISCHER X射线仪器的纯元素片进行重新认证?

不是必要的。你不需要重新认证纯元素块,因为元素的厚度是饱和的,所以非常稳定。

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