正确校准

只有经过严格校准，测量仪器才能给出正确的结果。 在这里，我们回答一些关于当你在校准仪器时应该考虑的一些问题。

在校准过程中，将测试仪器的读数与被测物体的实际特性（通常是具有已知值的标准件）进行比较。 层厚就是这样一种特性。如果刚测得的值偏离了已知值，则必须调整仪器。对于所有Fischer的接触式涂层测厚仪，这两个功能都包含在“校准”菜单下。

校准过程中应依照相同的条件，在随后的实际测量过程中也应如此。如果要测量涂层的厚度，应先在未涂层的原始工件上校准仪器。校准时，在未涂层工件上使用与测量涂层工件相同的位置。

一般来说，只要测量条件发生变化，就应重新校准仪器。例如，如果基材的成分发生变化，或者如果您从测一个平坦的位置转而开始测一个弯曲的位置，则可能需要重新校准，这取决于所使用的测量方法。

在大多数仪器上，您可以选择快速的单点校准和全面的多点校准。 如果要测量的值都非常接近，则快速校准通常就足够了。例如，如果涂层的厚度在10到15μm之间变化，那么用一个13μm的标准片来校准仪器就足够了。如果厚度范围较大，建议进行多点校准；目标值应能覆盖预期的涂层厚度范围。

会影响测量结果的常见因素。如果其中一个因素发生明显变化，应重新校准仪器：

• 测量表面的曲率
• 对于薄样品：基材厚度
• 对于小样品：样品尺寸
• 粗糙度
• 基材或涂层材料的成分和磁化能力
• 对于电导率测量：温度