X-RAY XDV-µ 使用教程

Helmut Fischer市场专员Grace Chua, 将通过一系列教程演示FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ是多么的便于使用。XDV®-µ是一种带有多毛细管X射线光学元件的X射线荧光测试仪器，用于测量非常小的部件和结构。该类仪器都配备了聚焦X射线束的多毛细管光学元件，使直径在10到60μm之间的测量点（fwhm）也成为可能。高强度的聚焦辐射能够缩短测量所需持续的时间。 除了普遍适用的XDV-μ外，针对电子和半导体行业也有专门的配置。 例如，XDV-μ PCB被优化用于对印刷电路板进行测量，而XDV-μ Wafer则用于洁净室。