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XDV在此体验新的XDV系列
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用新的FISCHERSCOPE X-RAY XDV系列掌握您的应用。
我们的XDV®仪器现在甚至更好。新的脉冲处理器DPP+，独特的测量距离，甚至更好的性能和最小的测量点。
请阅读我们对新的XDV®系列的应用说明。
- 在做印记之前，适用于高样品量或大型测试部件。快速、可靠地测量金含量
使用新的FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD可靠地检查合金或贵金属的细微差别。获得高度精确的分析，在此基础上，您可以对金条、硬币或珠宝的价值做出可靠的声明。
现在下载 - 为电子工业而优化。测量ENIG和ENEPIG的新水平
新的FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ带有数字脉冲处理器DPP+，性能显著提升，是测量化学镍/化学金（ENIG）或化学镍/化学钯/化学金（ENEPIG）涂层的最佳解决方案。
现在下载 - 连接器行业中的压配插销的质量控制
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD是一个强大的工具，可以成功解决连接器应用的质量控制中即将面临的挑战。
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现场个性化咨询，全方位优质服务
一切都来自单一来源以实现完美的质量管理：这是 Helmut Fischer GmbH 的主张！为您获得最佳测量结果提供全套服务。因为精确、可靠的测量需要的不仅仅是一流的测量设备。从详细的需求分析开始，选择正确的测量设备。通过专业的调试和产品培训，以实现最佳的设备使用。为长期设备使用提供全面和快速的服务。仅 Helmut Fischer 提供：通过 ISO / IEC 17025 认证的 Fischer 校准标准，您可以精确且可追溯的进行测量。也能将您的样品认证为校准标准！
涂层厚度测量、XRF分析、纳米压痕、划痕测试等方面的专家。
“Measuring Made Easy”。根据这一座右铭，Helmut Fischer自1953年以来一直在开发和制造用于工业和实验室的涂层厚度测量、材料分析、材料测试和显微硬度的测量仪器。创始人Helmut Fischer的发明精神至今仍是Fischer公司企业文化的一个组成部分。这一切都始于一个测量涂层厚度的手持设备。1981年，第一台用于精确、无损测量镀层厚度和XRF材料分析的X射线荧光测量仪问世。随后，纳米压痕和划痕测试领域的进一步测量和测试仪器，以及自动测量解决方案，也相继问世。
广泛的产品组合，包括手持式设备、XRF光谱仪、台式仪器、自动化等
Fischer的产品系列包括涂层厚度测量、XRF分析、纳米压痕、划痕测试、电导率测量、铁氧体含量测定等领域的测量技术。从用于防腐领域快速涂层厚度测量的手持式设备，到用于简单的黄金测试或电镀领域的XRF光谱仪，再到电子行业的自动化高端系统。我们的测量和分析仪器易于使用，非常精确且极其可靠--这就衡量我们的方式！
