FISCHERSCOPE X-RAY PCB系列
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB也配备了一个比例计数管。然而，这台XRF仪器有各种准直器和滤波器可选，因此您可以为您的任务创造最佳的测量条件。在基本配置中，它有一个拉出式样品台，这简化了PCB的定位。根据要求，还可以提供一个可编程的XY平台，用于自动测量。
- 用于标准应用的钨靶微聚焦射线管
- 4个可切换的准直器，以优化测量条件
- 3种可切换的滤波器，为更复杂的任务提供更好的激发条件
- 最小的测量点约Ø0. 15 mm
- 比例计数管接收器，用于分析从钾(19)到铀(92)的元素
- 手动抽拉式或可编程的自动测量平台，用于印刷电路板，最大尺寸610 x 610 mm (24" x 24")
- 最大样品高度。5毫米
- Fischer的专利：DCM方法，用于简单快速地调整测量距离
- 根据德国辐射防护法，作为完全受保护的仪器进行单独验收
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB
与XULM-PCB和XDLM-PCB相比，FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB配备了一个高灵敏度的硅漂移探测器（SDD）、不同的准直器和滤波器。这也为测试ENIG和ENEPIG工艺的镀层创造了最佳的测量条件。在其基本配置中，该仪器有一个拉出式样品台，简化了PCB的定位。根据要求，它可以配备一个用于大型PCB的样品台扩展。
- 钨靶或铬靶微聚焦射线管
- 4个可切换的准直器，用于优化测量条件
- 3种可切换的滤波器，用于更复杂任务的最佳激发条件
- 最小的测量点Ø约0。 15 mm
- 硅漂移检测器（SDD）用于分析从铝（13）到铀（92）的元素
- Fischer的专利。DCM方法用于简单而快速地调整测量距离
- 手动抽拉式平台，适用于610 x 610 mm (24" x 24")的印刷电路板
- 最大样品高度为10 mm
- 根据德国辐射防护法，作为完全保护的仪器进行单独验收
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
在需要高可靠性的应用中，印刷电路板是质量关键性的部件。在这种情况下，要采用符合ENIG和ENEPIG工艺的高端涂层。由于这些工艺中最薄的涂层厚度在40至100纳米之间，比例计数管的精度已不足以监测该工艺。这时FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB就是正确的选择。高灵敏度的硅漂移检测器（SDD）和多毛细管光学器件的结合，可以对尺寸小于50微米的结构进行精确测量。
特别是在处理非常小的结构时，如果要检查大量的随机样品，单独选择每个测量位置会花费很多时间。但是通过Fischer软件实施的图像识别功能，你可以省下这些力气。只需存储图像的一个局部。XDV-µ PCB就会搜索相应的结构，并自动测量它们。
- Microfocus Ultra 超微聚焦射线管（钨阳极），在 µ-XRF 的最小光斑上实现更高性能；钼阳极可选
- 4种可切换的滤波器，用于更复杂任务的最佳激发条件
- 多毛细管光学器件，用于非常小的测量点约Ø20或10微米
- 硅漂移探测器（SDD），用于分析从铝（13）到铀（92）的元素
- 可编程测量平台，可选择带真空平台的FLEX PCB
- 最大样品高度< 4-5毫米
- 根据德国辐射防护法，作为完全保护仪器进行单独验收
- 数字脉冲处理器 DPP+。 相同标准偏差下的测量时间更短*
*与民进党相比。
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