正确的镀液成份是保证金属镀层质量的关键。你真的知道分析电镀槽有多容易吗？解决方案就是X射线荧光分析！请阅读本期德国贸易杂志JOT – Journal für Oberflächentechnik上我们引人入胜、内容丰富的文章。
金属镀层的质量在很大程度上取决于电镀液的成分。通常，会用化学电解质分析方法来监测电镀液。然而，这些方法既耗时又昂贵。一种简单的替代方法是X射线荧光分析法。
为了以规定的沉积速率和均匀的成分施涂电镀层，电镀公司必须非常密切地监测其镀液的成分。还有不仅仅是珠宝行业常用的装饰性金属涂层，如AuCuCd、AuCuIn或RhRu镀层。无论是为了符合规范还是为了装饰，必须确保镀层能均匀地镀在整个表面上。这样，就可以实现所需的功能和统一的着色。
对于镀液分析，可以使用各种化学方法：例如ICP-OES、AAS或滴定法。然而，这些方法的缺点是耗时、成本高、实现复杂。一种简单、快速、经济的替代方法是X射线荧光分析法（XRF分析），它能提供同样精确的结果。只需几个简单的步骤，测量准备且除了使用的塑料薄膜以外没有消耗品。既不需要分析气体，如氩气，也不需要纯化水。
全球测量技术专家Fischer为XRF分析提供了多种不同的测试仪器。高精度X射线荧光测试仪是分析电镀液中金属含量的专用仪器，可用于工业上几乎所有常用电解液的溶液分析。此过程所需的附件都包含在电镀液分析附件包中，因此相应的XRF测量仪器不需要特殊升级即可执行分析。这些样品制备和测量完全不需要很多相关知识储备就可以完成，当然你也可以得到Fischer全球服务的支持。
最短时间内精确测量结果
首先，用待分析的溶液填充一个小测量杯。之后，覆盖一层薄而结实的聚酯薄膜，并用一个黑色的塑料环紧紧密封。用这种方法制备的样品也可以用测量方向为自下向上的XRF仪器进行测量。
随后，将镀液分析附件放置在XRF仪器的工作台上，并使用Fischer开发的软件进行对焦。相应的溶液分析测量程式存储在软件中，可通过相应的按钮或先前设定的快捷键进行选择。测量时间、测量次数等测量条件可以灵活设置，并直接存储在测量程式中。
只需一次按键，测量就可以开始，并在很短的时间内提供精确的结果。因此，可以更快对电镀槽进行调整。除了SPC显示器外，还有许多其他选项可以实现可视化测量结果。镀液分析附件是耐化学物质的，因此可以重复使用，从而将使用成本降至最低，前提是对其进行适当清洁。
可以测定 0.1 g/l 起的金属含量
可提供三种类型的探测器：比例接收器、硅PIN接收器和硅漂移探测器（SDD）。配有比例接收器的测量仪器可用于金属含量为1 g/l以上的溶液。带有硅PIN或硅漂移探测器的仪器由于其更好的能量分辨率而更加灵敏，并且可用于0.1 g/l以上的浓度。
X射线荧光测试仪不是必须要校准的。对于工厂控制，无标准测量通常也是足够的。如有必要，可随时用已知浓度的溶液进行校准。重要的是，在实际应用种，校准与待测电镀槽可以一起进行。
三种不同的测量杯
然而，电镀液的基体不仅由金属离子决定。通常含有有机成分或其他轻元素，如氯、硫酸盐或鎶。它们无法释放可接收范围内的荧光信号，但对待分析的元素却有吸收作用。因此，镀液分析套件里括三种不同的测量杯，它们在底座的材料上有所不同：钼、镍或锆。测量杯底座释放的荧光信号是可以预知的基体效应。使用合适的测量杯可确保底座的荧光信号不会与待分析元素的荧光信号重叠和干扰。
与其他分析方法相比，高精度X射线荧光测试仪搭配合适的镀液分析测量杯，大大节省了时间，并且可以直接应用于生产过程，无需专业的测试人员也可以进行。