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特点

  • 与生产控制系统相连的运行过程中的连续测量
  • 灵活的用途:用于真空或空气中的测量; 适用于高达400°C的样品温度
  • 可选配水冷
  • 特别稳健的设计和结构,可在苛刻的条件下持续精确的测量
  • 非常适合于大表面产品的镀层厚度测量和材料分析
  • X射线源,探测器和基本滤片都可由客户选择
  • 符合DIN ISO 3497和ASTM的系统 B 568标准

应用

  • 太阳能行业中CIGS,CIS,CdTe和CdS层的厚度
  • 金属条,金属箔和塑料膜上的几微米厚的薄镀层
  • 光伏中CIGS,CIS,CdTe和CdS层的组成
  • 连续生产中的镀层厚度控制
  • 溅射和电镀厂的过程监控

用于光伏的自动XRF系统

FISCHERSCOPE® X-RAY 5000系统可以连续测量大面积基板(例如在光伏中)上薄镀层的厚度。该系列的设备由模块化单元组成,易于在生产线上安装。X-RAY5000可以在正常空气或真空中运行。此外,该设备的设计易于维护:测量头可以在不释放真空的情况下进行维修。

如果产品在制造过程中移动或凸出,可能会使测量结果发生偏差。 为此Fischer的WinFTM软件内置了距离补偿功能,该功能可以补偿高达1厘米的波动的影响,而无需额外的距离传感器。

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