FMP100 and H FMP150
特性
- 探头种类很多,包括许多特殊的探头,用于精确执行各种厚度测量任务
- 根据DIN EN ISO 2178的磁感应测量方法和根据DIN EN ISO 2360的涡流测量方法,具有最大的灵活性;DUALSCOPE H FMP150还有磁性测量方法
- 涂层厚度测量规范包括 IMO PSPC, SSPC-PA2, QUALANOD或QUALICOAT
- 自动识别探头和基材
- 在高分辨率的图形触摸屏上详细显示测量模式和检验计划
- 广泛的评估和统计功能,支持图形显示选项
- 大内存,可用于数千个不同校准的测量应用程序
- Windows CE操作系统通过图形用户界面和用户定义的文件和文件夹结构,用户可以直观地操作
- 可选:Fischer数据中心软件可创建单独的检验计划
- USB接口可连接PC和打印机
完美的测厚仪,专业的质量保证
在涂层厚度测量方面获得最大的灵活性,同时满足最高的精度和准确度要求:您可以使用我们的DUALSCOPE®FMP100和DUALSCOPE®H FMP150!它们将磁感应测量法和涡流测试法结合在一个仪器中,所以你可以在不更换仪器的情况下测量钢铁和有色金属上的涂层厚度。DUALSCOPE H FMP150还有磁性方法,这允许你测量有色金属或绝缘体上的镀镍厚度。
DUALSCOPE FMP100和DUALSCOPE H FMP150是质量保证中最先进的测厚仪。例如,您可以使用这些手持仪器来测量漆膜厚度。您甚至可以轻松而精确地测量CDC涂层。这些仪器配有触摸屏和Windows™CE操作系统,操作速度快且直观。由于内存大,它们可以处理数千个测量任务的数千个测量值。
各种统计和分析函数可用于评价测量结果。它们的另一个优势是我们的专利工厂诊断图(FDD),该评估选项使过程可视化,并提供了生产变量(如厚度)分布的图形概述。